Skip to content
Choice of metadata ЭБС Юрайт
Page 1, Results: 6
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для спо / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-11734-9
URL: https://urait.ru/bcode/542894 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я723
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптические измерения -- Основы фотоники -- Фотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов, обучающихся по естественнонаучным направлениям.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для спо / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-11734-9
URL: https://urait.ru/bcode/542894 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптические измерения -- Основы фотоники -- Фотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов, обучающихся по естественнонаучным направлениям.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
2.
Подробнее
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для вузов / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-10804-0
URL: https://urait.ru/bcode/541824 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.34я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптика твердого тела -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы информационной оптики -- Основы оптики -- Волны и оптика -- Геометрическая оптика -- Современная оптика -- Физическая оптика -- Оптика и методика ее преподавания в профильной школе -- Основы геометрической оптики -- Специальные вопросы оптики -- Интегрированные технологии и оптика локализованных структур -- Системы адаптивной оптики и их приложения -- Физические и математические принципы адаптивной оптики -- Решение задач по оптике -- Оптика конденсированных сред -- Оптика диэлектрических материалов и структур -- Основы физической оптики -- Математический аппарат современной оптики -- Технологии обработки и контроля оптики -- Механика и оптика -- Оптика и атомная физика -- Введение в современную оптику -- Некоторые вопросы прикладной электродинамики в оптике -- Теоретическая оптика -- Оптика атмосферы -- Оптические устройства -- Оптика дисперсных систем -- Основы матричной оптики -- Статистическая и корреляционная оптика -- Компьютерные методы в современной оптике -- Статистическая оптика -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Дифракционная оптика -- Поляризационная оптика -- Техническая оптика -- Оптические свойства кристаллов -- Информационная оптика -- Компьютерное моделирование в оптике -- Оптика поверхности -- Оптика анизотропных сред -- Специальные разделы оптики -- Методы контроля в оптике -- История оптики -- Компьютерные технологии в оптике -- Математическое моделирование в оптике -- Оптика плазмы -- Оптическая техника -- Основы голографии и голограммной оптики -- Экспериментальная оптика -- Экспериментальные методы оптической физики -- Введение в матричную оптику -- Колебания и волны в оптике -- Фурье оптика и голография -- Физиологическая оптика -- Основы технической оптики
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания теории раздела «Оптика» с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для бакалавров направления подготовки «Педагогическое образование» (профиль «Физическое образование»).
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для вузов / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-10804-0
URL: https://urait.ru/bcode/541824 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптика твердого тела -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы информационной оптики -- Основы оптики -- Волны и оптика -- Геометрическая оптика -- Современная оптика -- Физическая оптика -- Оптика и методика ее преподавания в профильной школе -- Основы геометрической оптики -- Специальные вопросы оптики -- Интегрированные технологии и оптика локализованных структур -- Системы адаптивной оптики и их приложения -- Физические и математические принципы адаптивной оптики -- Решение задач по оптике -- Оптика конденсированных сред -- Оптика диэлектрических материалов и структур -- Основы физической оптики -- Математический аппарат современной оптики -- Технологии обработки и контроля оптики -- Механика и оптика -- Оптика и атомная физика -- Введение в современную оптику -- Некоторые вопросы прикладной электродинамики в оптике -- Теоретическая оптика -- Оптика атмосферы -- Оптические устройства -- Оптика дисперсных систем -- Основы матричной оптики -- Статистическая и корреляционная оптика -- Компьютерные методы в современной оптике -- Статистическая оптика -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Дифракционная оптика -- Поляризационная оптика -- Техническая оптика -- Оптические свойства кристаллов -- Информационная оптика -- Компьютерное моделирование в оптике -- Оптика поверхности -- Оптика анизотропных сред -- Специальные разделы оптики -- Методы контроля в оптике -- История оптики -- Компьютерные технологии в оптике -- Математическое моделирование в оптике -- Оптика плазмы -- Оптическая техника -- Основы голографии и голограммной оптики -- Экспериментальная оптика -- Экспериментальные методы оптической физики -- Введение в матричную оптику -- Колебания и волны в оптике -- Фурье оптика и голография -- Физиологическая оптика -- Основы технической оптики
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания теории раздела «Оптика» с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для бакалавров направления подготовки «Педагогическое образование» (профиль «Физическое образование»).
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
3.
Подробнее
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для спо / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-11290-0
URL: https://urait.ru/bcode/541960 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.34я723
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Геометрическая оптика -- Основы физиологической оптики -- Принципы оптической коррекции зрения -- Теория и расчет оптических систем -- Теория оптических систем -- Физическая оптика -- Основы геометрической оптики -- Основы физической оптики -- Введение в очковую оптику -- Пучковая оптика и аберрации оптических систем
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания физической теории раздела «Оптика» курса общей физики с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Курс будет полезен студентам, исследующим данную тему, а также всем практикующим специалистам.
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для спо / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-11290-0
URL: https://urait.ru/bcode/541960 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Геометрическая оптика -- Основы физиологической оптики -- Принципы оптической коррекции зрения -- Теория и расчет оптических систем -- Теория оптических систем -- Физическая оптика -- Основы геометрической оптики -- Основы физической оптики -- Введение в очковую оптику -- Пучковая оптика и аберрации оптических систем
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания физической теории раздела «Оптика» курса общей физики с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Курс будет полезен студентам, исследующим данную тему, а также всем практикующим специалистам.
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
4.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
5.
Подробнее
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06855-9
URL: https://urait.ru/bcode/538891 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Основы фотоники -- Когерентная оптика -- Колебания волны, оптика -- Оптические методы анализа -- Колебания и волны, оптика -- Оптика, колебания и волны -- Оптическая интерферометрия -- Фотоника -- Оптоэлектроника и нанофотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Теоретический материал дополнен вопросами и заданиями для самоконтроля, библиографическими списками, а также приложениями.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06855-9
URL: https://urait.ru/bcode/538891 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Основы фотоники -- Когерентная оптика -- Колебания волны, оптика -- Оптические методы анализа -- Колебания и волны, оптика -- Оптика, колебания и волны -- Оптическая интерферометрия -- Фотоника -- Оптоэлектроника и нанофотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Теоретический материал дополнен вопросами и заданиями для самоконтроля, библиографическими списками, а также приложениями.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
6.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для спо / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15619-5
URL: https://urait.ru/bcode/517420 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я723
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Неразрушающий контроль в производстве -- Оптические измерения -- Диагностика и неразрушающий контроль -- Неразрушающий контроль рельсов -- Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов -- Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля -- Общая классификация методов неразрушающего контроля -- Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля -- Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля -- Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля -- Неразрушающий контроль и диагностика -- Спектральный анализ -- Неразрушающий контроль узлов и деталей
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для спо / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Профессиональное образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15619-5
URL: https://urait.ru/bcode/517420 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Неразрушающий контроль в производстве -- Оптические измерения -- Диагностика и неразрушающий контроль -- Неразрушающий контроль рельсов -- Проведение спектрального, полярографического и пробирного анализов -- Испытания и контроль исходных компонентов, полуфабрикатов, комплектующих для производства изделий из полимерных композитов, включая методы неразрушающего контроля -- Общая классификация методов неразрушающего контроля -- Теоретические основы осуществления ультразвукового неразрушающего контроля -- Теоретические основы, технология и технические средства радиационного неразрушающего контроля -- Технология и технические средства ультразвукового неразрушающего контроля -- Неразрушающий контроль и диагностика -- Спектральный анализ -- Неразрушающий контроль узлов и деталей
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Page 1, Results: 6