Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Измерения и контроль в микроэлектронике : учебное пособие для вузов / [Н. Д. Дубовой, В. И. Осокин, А. С. Очков и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - Москва : Высшая школа, 1984. - 367 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 363-364
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- испытания ИМС -- интегральные микросхемы (ИМС) -- технология производства ИМС -- методы контроля цифровых ИМС -- методы контроля аналоговых ИМС -- автоматическое оборудование контроля ИМС
Доп.точки доступа:
Дубовой, Николай Дмитриевич
Осокин, Вячеслав Иванович
Очков, Александр Сергеевич
Сазонов, А. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Измерения и контроль в микроэлектронике : учебное пособие для вузов / [Н. Д. Дубовой, В. И. Осокин, А. С. Очков и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - Москва : Высшая школа, 1984. - 367 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 363-364
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- испытания ИМС -- интегральные микросхемы (ИМС) -- технология производства ИМС -- методы контроля цифровых ИМС -- методы контроля аналоговых ИМС -- автоматическое оборудование контроля ИМС
Доп.точки доступа:
Дубовой, Николай Дмитриевич
Осокин, Вячеслав Иванович
Очков, Александр Сергеевич
Сазонов, А. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 1