Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 1

Отмеченные записи: 0

548
М 607

Мильбурн, Г.
    Рентгеновская кристаллография = X-ray crystallography / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе. - Москва : Мир, 1975. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с. 246-252
Парал. тит. л. на англ. яз.

УДК

Рубрики: кристаллы--рентгеноструктурный анализ--монографии

Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллов -- кристаллические структуры -- структура кристаллов -- оптические исследования кристаллов -- рентгенограммы по Вайсенбергу -- вайсенбергограммы -- юстировка кристаллов -- анализ структуры кристаллов -- интенсивности дифракционных отражений -- измерение интенсивностей по Вайсенбергу -- дифрактометры -- кристаллографические программы
Доп.точки доступа:
Чиргадзе, Юрий Николаевич \пер.\

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Мильбурн, Г. Рентгеновская кристаллография [Текст] / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе, 1975. - 256 с.

1.

Мильбурн, Г. Рентгеновская кристаллография [Текст] / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе, 1975. - 256 с.


548
М 607

Мильбурн, Г.
    Рентгеновская кристаллография = X-ray crystallography / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе. - Москва : Мир, 1975. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с. 246-252
Парал. тит. л. на англ. яз.

УДК

Рубрики: кристаллы--рентгеноструктурный анализ--монографии

Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллов -- кристаллические структуры -- структура кристаллов -- оптические исследования кристаллов -- рентгенограммы по Вайсенбергу -- вайсенбергограммы -- юстировка кристаллов -- анализ структуры кристаллов -- интенсивности дифракционных отражений -- измерение интенсивностей по Вайсенбергу -- дифрактометры -- кристаллографические программы
Доп.точки доступа:
Чиргадзе, Юрий Николаевич \пер.\

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Page 1, Results: 1

 

All acquisitions for 
Or select a month