Skip to content 
el cat en
База данных: ELS Lan
Page 1, Results: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Дракин, А. Ю.
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов. - 2-е изд., стер. - Санкт-Петербург : Лань, 2021. - 284 с. . - ISBN 978-5-8114-8773-8
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки
. - https://e.lanbook.com/book/108447
ББК 621.3.049.77
Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроника, радиотехника и системы связи--Лань
Кл.слова (ненормированные):
аналоговые микросхемы -- силовые диоды -- транзисторы -- тестер
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
Доп.точки доступа:
Зотин, В. Ф.
Потапов, Л. А.
Дракин, А. Ю.
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов. - 2-е изд., стер. - Санкт-Петербург : Лань, 2021. - 284 с. . - ISBN 978-5-8114-8773-8
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки
. - https://e.lanbook.com/book/108447
| УДК |
Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроника, радиотехника и системы связи--Лань
Кл.слова (ненормированные):
аналоговые микросхемы -- силовые диоды -- транзисторы -- тестер
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
Доп.точки доступа:
Зотин, В. Ф.
Потапов, Л. А.
Page 1, Results: 1