Skip to content
Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ
Page 1, Results: 1
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Осовицкий, А. Н.
Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков / А. Н. Осовицкий, Л. В. Тупанов // Радиотехника и электроника. - Т. 53, N 12 (2008), С. 1516-1520. - Библиогр.: с. 1520 (10 назв. )
ББК 32.86 + 22.374
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовая электроника
Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
волноводный метод -- шероховатость поверхностей -- диэлектрики -- поверхности диэлектриков
Аннотация: Проанализированы основные характеристики нового метода определения параметров шероховатости поверхности, основанного на рассеянии света в волноводах интегральной оптики. Показано, что при использовании стандартных приборов волноводный метод обеспечивает рекордные для оптических методов чувствительность и разрешение.
Доп.точки доступа:
Тупанов, Л. В.
Осовицкий, А. Н.
Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков / А. Н. Осовицкий, Л. В. Тупанов // Радиотехника и электроника. - Т. 53, N 12 (2008), С. 1516-1520. - Библиогр.: с. 1520 (10 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовая электроника
Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
волноводный метод -- шероховатость поверхностей -- диэлектрики -- поверхности диэлектриков
Аннотация: Проанализированы основные характеристики нового метода определения параметров шероховатости поверхности, основанного на рассеянии света в волноводах интегральной оптики. Показано, что при использовании стандартных приборов волноводный метод обеспечивает рекордные для оптических методов чувствительность и разрешение.
Доп.точки доступа:
Тупанов, Л. В.
Page 1, Results: 1