Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
| УДК |
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Page 1, Results: 2