Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Российская академия наук, Институт синтетических полимерных материалов. ; Российская академия наук, Институт синтетических полимерных материалов. - Москва : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785948361215
Рубрики: композиционные материалы--исследование--микроскопические методы
микроскопы--оптические системы
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы автоматизированные -- микроскопы поляризационные -- оптическая микроскопия -- микроскопия отраженного света -- микроскопы конфокальные -- конфокальная микроскопия -- лазерная микроскопия -- полимерные пленки -- тонкие пленки -- композиты многослойные -- волокнистые материалы -- рентгеновская микроскопия -- томография компьютерная -- микротомография волокнистых структур -- электронная микроскопия -- фотоэлектронная микроскопия -- ядерный магнитный резонанс -- акустическая микроскопия -- ультразвуковая микроскопия -- сканирующие системы -- ультразвуковая картография -- раманскопы -- полиметилметакрилаты -- углепластики -- стеклопластики -- ультразвуковое исследование материалов -- дарственная надпись
Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Баженов, Сергей Леонидович \пер.\
Российская академия наук. Институт синтетических полимерных материалов
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Российская академия наук, Институт синтетических полимерных материалов. ; Российская академия наук, Институт синтетических полимерных материалов. - Москва : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 13.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785948361215
| УДК |
Рубрики: композиционные материалы--исследование--микроскопические методы
микроскопы--оптические системы
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы автоматизированные -- микроскопы поляризационные -- оптическая микроскопия -- микроскопия отраженного света -- микроскопы конфокальные -- конфокальная микроскопия -- лазерная микроскопия -- полимерные пленки -- тонкие пленки -- композиты многослойные -- волокнистые материалы -- рентгеновская микроскопия -- томография компьютерная -- микротомография волокнистых структур -- электронная микроскопия -- фотоэлектронная микроскопия -- ядерный магнитный резонанс -- акустическая микроскопия -- ультразвуковая микроскопия -- сканирующие системы -- ультразвуковая картография -- раманскопы -- полиметилметакрилаты -- углепластики -- стеклопластики -- ультразвуковое исследование материалов -- дарственная надпись
Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Баженов, Сергей Леонидович \пер.\
Российская академия наук. Институт синтетических полимерных материалов
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
К47
Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт; пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2008. - 376c.. - ISBN 9785948361215
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- методы оптических исследований -- конструкционные материалы -- материаловедение -- микроскопы -- конструкция -- цифровая информация -- микропроцессоры -- история развития -- ПЭС-матрицы -- оцифровка -- цифровое изображение -- исследование материалов -- лазерная микроскопия -- конфокальные микроскопы -- сканирующая акустическая микроскопия -- ультразвуковая картография
Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Баженов, Сергей Леонидович \переводчик.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
К47
Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Э.Р. Кларк, К.Н. Эберхардт; пер. с англ. С.Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2008. - 376c.. - ISBN 9785948361215
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- методы оптических исследований -- конструкционные материалы -- материаловедение -- микроскопы -- конструкция -- цифровая информация -- микропроцессоры -- история развития -- ПЭС-матрицы -- оцифровка -- цифровое изображение -- исследование материалов -- лазерная микроскопия -- конфокальные микроскопы -- сканирующая акустическая микроскопия -- ультразвуковая картография
Доп.точки доступа:
Эберхардт, Колин Н
Баженов, Сергей Леонидович \переводчик.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Page 1, Results: 2