Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Фефилов, Г. Д.; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Применение метода весовой обработки для уменьшения влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри / Г. Д. Фефилов // Известия вузов. Приборостроение. - Т. 49, N 9 (2006), С. 63-67. - Библиогр.: с. 67 (9 назв. ). - Тематический выпуск: Лазерные микротехнологии в материаловедении и приборостроении/ Под. ред. д-ра техн. наук В. П. Вейко и д-ра техн. наук Е. Б. Яковлева
ББК 30.10
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
имитационное моделирование -- дифрактометрия -- картина Эйри -- Эйри картина -- фильтрация -- метод весовой обработки -- аддитивные помехи -- погрешности -- лазерные дифрактометры -- оптоэлектронные приборы
Аннотация: Приведены результаты имитационного моделирования влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри. Показано, что обычно значение погрешности существенно более 1%. Применение метода весовой обработки, с использованием оптимальной весовой функции, а также традиционных методов фильтрации позволяет снизить погрешность.
Фефилов, Г. Д.; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Применение метода весовой обработки для уменьшения влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри / Г. Д. Фефилов // Известия вузов. Приборостроение. - Т. 49, N 9 (2006), С. 63-67. - Библиогр.: с. 67 (9 назв. ). - Тематический выпуск: Лазерные микротехнологии в материаловедении и приборостроении/ Под. ред. д-ра техн. наук В. П. Вейко и д-ра техн. наук Е. Б. Яковлева
| УДК |
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
имитационное моделирование -- дифрактометрия -- картина Эйри -- Эйри картина -- фильтрация -- метод весовой обработки -- аддитивные помехи -- погрешности -- лазерные дифрактометры -- оптоэлектронные приборы
Аннотация: Приведены результаты имитационного моделирования влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри. Показано, что обычно значение погрешности существенно более 1%. Применение метода весовой обработки, с использованием оптимальной весовой функции, а также традиционных методов фильтрации позволяет снизить погрешность.
Page 1, Results: 1