Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 6
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Влияние примеси BaTiO₃ на структуру NaNO₂ в композите (0.9)NaNO₂+(0.1)BaTiO₃ [Текст] / О. А. Алексеева [и др.]. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.
Кл.слова (ненормированные):
метод дифракции нейтронов -- композит -- сегнетоэлектрики (0.9)NaNO₂+(0.1)BaTiO₃ -- примесь BaTiO₃ -- NaNO₂
Доп.точки доступа:
Алексеева, О. А.
Стукова, Е. В.
Борисов, С. А.
Симкин, В. Г.
Набережнов, А. А.
Влияние примеси BaTiO₃ на структуру NaNO₂ в композите (0.9)NaNO₂+(0.1)BaTiO₃ [Текст] / О. А. Алексеева [и др.]. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.
Кл.слова (ненормированные):
метод дифракции нейтронов -- композит -- сегнетоэлектрики (0.9)NaNO₂+(0.1)BaTiO₃ -- примесь BaTiO₃ -- NaNO₂
Доп.точки доступа:
Алексеева, О. А.
Стукова, Е. В.
Борисов, С. А.
Симкин, В. Г.
Набережнов, А. А.
2.
Подробнее
Кристаллическая структура, магнитные и микроволновые свойства твердых растворов BaFe₁₂₋ₓGaₓO₁₉ (0.1≤χ≤1.2) [Текст] / А. В. Труханов [и др.]. // 7 nnas. Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 9.
Кл.слова (ненормированные):
бариевый феррит -- твердые растворы -- микроволновые свойства твердых растворов -- кристаллическая структура твердых растворов -- магнитные свойства твердых растворов -- метод дифракции
Доп.точки доступа:
Труханов, А. В.
Труханов, С. В.
Турченко, В. А.
Олейник, В. В.
Яковенко, В. С.
Мацуй, Л. Ю.
Вовченко, Л. Л.
Лаунец, В. Л.
Казакевич, Игорь Степанович
Джабаров, С. Г.
Кристаллическая структура, магнитные и микроволновые свойства твердых растворов BaFe₁₂₋ₓGaₓO₁₉ (0.1≤χ≤1.2) [Текст] / А. В. Труханов [и др.]. // 7 nnas. Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 9.
Кл.слова (ненормированные):
бариевый феррит -- твердые растворы -- микроволновые свойства твердых растворов -- кристаллическая структура твердых растворов -- магнитные свойства твердых растворов -- метод дифракции
Доп.точки доступа:
Труханов, А. В.
Труханов, С. В.
Турченко, В. А.
Олейник, В. В.
Яковенко, В. С.
Мацуй, Л. Ю.
Вовченко, Л. Л.
Лаунец, В. Л.
Казакевич, Игорь Степанович
Джабаров, С. Г.
3.
Подробнее
Дифракция отраженных электронов от нанопористого кремния, сформированного низкоэнергетической имплантацией ионами серебра [Текст] / В. В. Воробьев, Ю. Н. Осин, М. А. Ермаков [и др.]. // Нанотехнологии: наука и производство : научный журнал. - Москва : Практика,. - 2015. – № 1.
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- пористый кремний -- дифракция обратно-рассеянных электронов -- ионная имплантация -- нанопористый кремний -- кремний нанопористый -- метод дифракции отраженных электронов -- кремний -- ионы серебра -- серебро (нанотехнологии) -- наноструктурные материалы -- композиционные материалы
Доп.точки доступа:
Воробьев, В. В.
Осин, Ю. Н.
Ермаков, М. А.
Валеев, В. Ф.
Нуждин, В. И.
Степанов, А. Л.
Дифракция отраженных электронов от нанопористого кремния, сформированного низкоэнергетической имплантацией ионами серебра [Текст] / В. В. Воробьев, Ю. Н. Осин, М. А. Ермаков [и др.]. // Нанотехнологии: наука и производство : научный журнал. - Москва : Практика,. - 2015. – № 1.
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- пористый кремний -- дифракция обратно-рассеянных электронов -- ионная имплантация -- нанопористый кремний -- кремний нанопористый -- метод дифракции отраженных электронов -- кремний -- ионы серебра -- серебро (нанотехнологии) -- наноструктурные материалы -- композиционные материалы
Доп.точки доступа:
Воробьев, В. В.
Осин, Ю. Н.
Ермаков, М. А.
Валеев, В. Ф.
Нуждин, В. И.
Степанов, А. Л.
4.
Подробнее
И 982
Ищенко, Анатолий Александрович.
Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества / А. А. Ищенко. - Москва : Физматлит, 2018. - 655 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785922117999
Рубрики: молекулы--структурная динамика--исследование--физические методы--монографии
вещество--конденсированное состояние--структурная динамика--исследование--монографии
электроны--дифракция--монографии
Кл.слова (ненормированные):
динамика химических реакций -- структура свободных молекул -- электронная дифракция сверхбыстрая -- газовая электронография -- рассеяние электронов -- высокотемпературная газовая электронография -- структурная динамика молекул -- кристаллография электронная сверхбыстрая -- нанокристаллография электронная сверхбыстрая -- метод дифракции электронов -- электронная микроскопия -- электронография -- внутримолекулярная динамика -- динамика пентагалогенидов -- структурная динамика конденсированного состояния -- вибронно-активные молекулы -- спектральные методы -- аттосекундные методы -- молекулярные структуры -- атомно-молекулярное кино
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
И 982
Ищенко, Анатолий Александрович.
Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества / А. А. Ищенко. - Москва : Физматлит, 2018. - 655 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785922117999
| УДК |
Рубрики: молекулы--структурная динамика--исследование--физические методы--монографии
вещество--конденсированное состояние--структурная динамика--исследование--монографии
электроны--дифракция--монографии
Кл.слова (ненормированные):
динамика химических реакций -- структура свободных молекул -- электронная дифракция сверхбыстрая -- газовая электронография -- рассеяние электронов -- высокотемпературная газовая электронография -- структурная динамика молекул -- кристаллография электронная сверхбыстрая -- нанокристаллография электронная сверхбыстрая -- метод дифракции электронов -- электронная микроскопия -- электронография -- внутримолекулярная динамика -- динамика пентагалогенидов -- структурная динамика конденсированного состояния -- вибронно-активные молекулы -- спектральные методы -- аттосекундные методы -- молекулярные структуры -- атомно-молекулярное кино
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
5.
Подробнее
Ищенко, Анатолий Александрович.
Дифракция электронов : структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : Физматлит, 2012. - 614 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785922114479
Рубрики: электроны--дифракция--монографии
Кл.слова (ненормированные):
газовая электронография -- рассеяние электронов -- высокотемпературная газовая электронография -- галогениды металлов (структура) -- структурная динамика молекул -- кристаллография электронная -- нанокристаллография электронная -- метод дифракции электронов -- электронная микроскопия -- фотоэлектроника -- электронография
Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич
Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Ищенко, Анатолий Александрович.
Дифракция электронов : структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : Физматлит, 2012. - 614 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785922114479
| УДК |
Рубрики: электроны--дифракция--монографии
Кл.слова (ненормированные):
газовая электронография -- рассеяние электронов -- высокотемпературная газовая электронография -- галогениды металлов (структура) -- структурная динамика молекул -- кристаллография электронная -- нанокристаллография электронная -- метод дифракции электронов -- электронная микроскопия -- фотоэлектроника -- электронография
Доп.точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич
Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
6.
Подробнее
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
| УДК |
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Page 1, Results: 6