Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360180
Приложения : с. 363-375. Предметный указатель : с. 376-377
Рубрики: материалы--микроструктура--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- ионная масс-спектрометрия -- рентгеновские микроанализаторы -- микроскопы электронные -- наноструктуры -- композиционные металлы -- нанокомпозиты -- наноматериалы -- кристаллические структуры -- кристаллические решетки -- электронная микроскопия -- рентгеновская диффракция
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360180
Приложения : с. 363-375. Предметный указатель : с. 376-377
| УДК |
Рубрики: материалы--микроструктура--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- ионная масс-спектрометрия -- рентгеновские микроанализаторы -- микроскопы электронные -- наноструктуры -- композиционные металлы -- нанокомпозиты -- наноматериалы -- кристаллические структуры -- кристаллические решетки -- электронная микроскопия -- рентгеновская диффракция
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
2.
Подробнее
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 2