Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Федорков, Борис Георгиевич.
Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение / Б. Г. Федорков, В. А. Телец. - Москва : Энергоатомиздат, 1990. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 312-317. - ISBN 5283015459
Рубрики: преобразователи микроэлектронные--интегральные схемы
Кл.слова (ненормированные):
ЦАП(цифро-аналоговые преобразователи) -- АЦП (аналого-цифровые преобразователи) -- микроэлектронные устройства -- микроэлектронные системы -- микросхемы преобразователей -- процессоры цифровые -- устройства ввода-вывода -- обработка данных
Доп.точки доступа:
Телец, Виталий Арсеньевич
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Федорков, Борис Георгиевич.
Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение / Б. Г. Федорков, В. А. Телец. - Москва : Энергоатомиздат, 1990. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 312-317. - ISBN 5283015459
| УДК |
Рубрики: преобразователи микроэлектронные--интегральные схемы
Кл.слова (ненормированные):
ЦАП(цифро-аналоговые преобразователи) -- АЦП (аналого-цифровые преобразователи) -- микроэлектронные устройства -- микроэлектронные системы -- микросхемы преобразователей -- процессоры цифровые -- устройства ввода-вывода -- обработка данных
Доп.точки доступа:
Телец, Виталий Арсеньевич
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Литовченко, Владимир Григорьевич.
Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник / В. Г. Литовченко, А. П. Горбань ; [отв. ред. В. Л. Винецкий] ; Академия наук Украинской ССР, Институт полупроводников. - Киев : Наукова думка, 1978. - 315 с. : ил. - Библиогр. : с. 286-313
Кл.слова (ненормированные):
системы металл-диэлектрик-полупроводник -- физика микроэлектронных систем -- микроэлектронные системы -- слоистые структуры -- полупроводники -- диэлектрик-полупроводник
Доп.точки доступа:
Горбань, Анатолий Петрович
Винецкий, В. Л. \ред.\
Институт полупроводников (Киев)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Литовченко, Владимир Григорьевич.
Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник / В. Г. Литовченко, А. П. Горбань ; [отв. ред. В. Л. Винецкий] ; Академия наук Украинской ССР, Институт полупроводников. - Киев : Наукова думка, 1978. - 315 с. : ил. - Библиогр. : с. 286-313
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
системы металл-диэлектрик-полупроводник -- физика микроэлектронных систем -- микроэлектронные системы -- слоистые структуры -- полупроводники -- диэлектрик-полупроводник
Доп.точки доступа:
Горбань, Анатолий Петрович
Винецкий, В. Л. \ред.\
Институт полупроводников (Киев)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Дефекты структуры, методы их исследований и влияние на свойства кристаллов и пленок : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1982. - 138 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные системы -- дефекты МДП-структуры -- полупроводники -- гетероэпитаксиальные слои -- радиационные повреждения -- электромагнитные флуктуации -- физика твердого тела
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Дефекты структуры, методы их исследований и влияние на свойства кристаллов и пленок : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1982. - 138 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные системы -- дефекты МДП-структуры -- полупроводники -- гетероэпитаксиальные слои -- радиационные повреждения -- электромагнитные флуктуации -- физика твердого тела
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияние на параметры твердотельных приборов : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1984. - 110 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
гетероэпитаксиальные слои -- полупроводники -- дефекты МДП-структуры -- твердотельные приборы -- микроэлектронные системы
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияние на параметры твердотельных приборов : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1984. - 110 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
гетероэпитаксиальные слои -- полупроводники -- дефекты МДП-структуры -- твердотельные приборы -- микроэлектронные системы
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 4