Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 6

Отмеченные записи: 0


Лысенко, В.
    Керамика из нанопорошка оксида цинка. Получение, структура, свойства [Текст] / В. Лысенко. // 7 nnas. Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 1.

Кл.слова (ненормированные):
оксид цинка -- керамика -- горячее прессование -- оптическая керамика -- синтез керамики

Лысенко, В. Керамика из нанопорошка оксида цинка. Получение, структура, свойства [Текст] / В. Лысенко. - С. 38-40. с. // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 1.



    Микроструктура и свойства электроконтактного материала Cu-(ZnO/TiO₂) [Текст] / Г. М. Зеер [и др.]. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- энергодисперсионный микроанализ -- нанопорошки оксидов -- порошковая металлургия -- композиционные материалы -- оксид цинка -- титанат цинка -- электроконтактные КМ
Доп.точки доступа:
Зеер, Г. М.
Зеленкова, Е. Г.
Белецкий, В. В.
Николаев, С. В.
Кожурин, А. Н.
Кучинский, М. Ю.
Григорьева, О. А.

Микроструктура и свойства электроконтактного материала Cu-(ZnO/TiO₂) [Текст] / Г. М. Зеер [и др.]. - С. 88-93. с. // Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.

2.

Микроструктура и свойства электроконтактного материала Cu-(ZnO/TiO₂) [Текст] / Г. М. Зеер [и др.]. - С. 88-93. с. // Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.




    Микроструктура и свойства электроконтактного материала Cu-(ZnO/TiO₂) [Текст] / Г. М. Зеер [и др.]. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 12.

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- энергодисперсионный микроанализ -- нанопорошки оксидов -- порошковая металлургия -- композиционные материалы -- оксид цинка -- титанат цинка -- электроконтактные КМ
Доп.точки доступа:
Зеер, Г. М.
Зеленкова, Е. Г.
Белецкий, В. В.
Николаев, С. В.
Кожурин, А. Н.
Кучинский, М. Ю.
Григорьева, О. А.



    Управление гидрофобностью наноструктурированных слоев оксида цинка, изготавливаемых методом импульсного электроосаждения [Текст] / Н. П. Клочко [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

Кл.слова (ненормированные):
оксид цинка -- высокогидрофобные наноструктурированные слои -- метод импульсного электроосаждения -- эффект лепеска розы -- наноструктуры ZnO
Доп.точки доступа:
Клочко, Н. П.
Клепикова, Е. С.
Копач, В. Р.
Хрипунов, Г. С.
Мягченко, Ю. А.
Мельничук, Е. Е.
Любов, В. Н.
Копач, А. В.

Управление гидрофобностью наноструктурированных слоев оксида цинка, изготавливаемых методом импульсного электроосаждения [Текст] / Н. П. Клочко [и др.]. - С. 357-368. с. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

3.

Управление гидрофобностью наноструктурированных слоев оксида цинка, изготавливаемых методом импульсного электроосаждения [Текст] / Н. П. Клочко [и др.]. - С. 357-368. с. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.




    Управление гидрофобностью наноструктурированных слоев оксида цинка, изготавливаемых методом импульсного электроосаждения [Текст] / Н. П. Клочко [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

Кл.слова (ненормированные):
оксид цинка -- высокогидрофобные наноструктурированные слои -- метод импульсного электроосаждения -- эффект лепеска розы -- наноструктуры ZnO
Доп.точки доступа:
Клочко, Н. П.
Клепикова, Е. С.
Копач, В. Р.
Хрипунов, Г. С.
Мягченко, Ю. А.
Мельничук, Е. Е.
Любов, В. Н.
Копач, А. В.


Кукушкин, С. А.
    Эпитаксиальный рост оксида цинка методом молекулярного наслаивания на подложках SiC/Si [Текст] / С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. И. Романычев. // 7 nnas. Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 7.

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные пленки -- оксид цинка -- метод молекулярного наслаивания -- эпитаксиальный рост -- тонкие пленки
Доп.точки доступа:
Осипов, А. В.
Романычев, А. И.

Кукушкин, С. А. Эпитаксиальный рост оксида цинка методом молекулярного наслаивания на подложках SiC/Si [Текст] / С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. И. Романычев. - С. 1398-1402. с. // Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 7.

4.

Кукушкин, С. А. Эпитаксиальный рост оксида цинка методом молекулярного наслаивания на подложках SiC/Si [Текст] / С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. И. Романычев. - С. 1398-1402. с. // Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 7.



Кукушкин, С. А.
    Эпитаксиальный рост оксида цинка методом молекулярного наслаивания на подложках SiC/Si [Текст] / С. А. Кукушкин, А. В. Осипов, А. И. Романычев. // 7 nnas. Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 7.

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные пленки -- оксид цинка -- метод молекулярного наслаивания -- эпитаксиальный рост -- тонкие пленки
Доп.точки доступа:
Осипов, А. В.
Романычев, А. И.



    Концентрация азота в пленках оксида цинка, выращенных методом магнетронного распыления в плазме Ar и NO / О. В. Кононенко [и др. ]; ???? Поступила в редакцию 26. 01. 2006 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 31-36. - Библиогр.: с. 36 (13 назв. ). - Ил.

УДК
ББК 32.84 + 22.37

Рубрики: Радиоэлектроника--Общая радиотехника

   Физика--Физика твердого тела


Кл.слова (ненормированные):
пленки -- азот -- оксид цинка -- пленки оксида цинка -- плазма -- магнетронное распыление -- подложки -- подложки сапфира -- радиочастотное магнетронное распыление -- осаждение -- распыляющая плазма -- полупроводники
Аннотация: Пленки оксида цинка были выращены на подложках сапфира (0001) с использованием метода радиочастотного магнетронного распыления в плазме смеси аргона и NO. Рабочее давление во время осаждения было около 10 м торр, отношение Ar/NO варьировалось от 0 до 90. Было обнаружено, что уровень концентрации азота в пленках зависит не только от количества азота в ростовой атмосфере, но и отношения Ar к NO в распыляющей плазме. Наибольшая концентрация азота (4. 3 %) была получена в пленках, осажденных при температуре подложки 300&. ;C и отношении Ar: NO равным 90: 1. В пленках, полученных при этих условиях, было обнаружено наличие связей Zn-N, а связи N-O отсутствовали.
Доп.точки доступа:
Кононенко, О. В.; ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Noh, Y. S.; Thin Film Materials Research Center, Korea Institute of Science and Technology
Kim, T. W.; Division of Electrical and Computer Engineering, Hanyang University, Korea
Choi, W. K.; Thin Film Materials Research Center, Korea Institute of Science and Technology

Концентрация азота в пленках оксида цинка, выращенных методом магнетронного распыления в плазме Ar и NO [Текст] / О. В. Кононенко [и др. ]; ???? Поступила в редакцию 26. 01. 2006 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 31-36

5.

Концентрация азота в пленках оксида цинка, выращенных методом магнетронного распыления в плазме Ar и NO [Текст] / О. В. Кононенко [и др. ]; ???? Поступила в редакцию 26. 01. 2006 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 31-36




    Концентрация азота в пленках оксида цинка, выращенных методом магнетронного распыления в плазме Ar и NO / О. В. Кононенко [и др. ]; ???? Поступила в редакцию 26. 01. 2006 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 31-36. - Библиогр.: с. 36 (13 назв. ). - Ил.

УДК
ББК 32.84 + 22.37

Рубрики: Радиоэлектроника--Общая радиотехника

   Физика--Физика твердого тела


Кл.слова (ненормированные):
пленки -- азот -- оксид цинка -- пленки оксида цинка -- плазма -- магнетронное распыление -- подложки -- подложки сапфира -- радиочастотное магнетронное распыление -- осаждение -- распыляющая плазма -- полупроводники
Аннотация: Пленки оксида цинка были выращены на подложках сапфира (0001) с использованием метода радиочастотного магнетронного распыления в плазме смеси аргона и NO. Рабочее давление во время осаждения было около 10 м торр, отношение Ar/NO варьировалось от 0 до 90. Было обнаружено, что уровень концентрации азота в пленках зависит не только от количества азота в ростовой атмосфере, но и отношения Ar к NO в распыляющей плазме. Наибольшая концентрация азота (4. 3 %) была получена в пленках, осажденных при температуре подложки 300&. ;C и отношении Ar: NO равным 90: 1. В пленках, полученных при этих условиях, было обнаружено наличие связей Zn-N, а связи N-O отсутствовали.
Доп.точки доступа:
Кононенко, О. В.; ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Noh, Y. S.; Thin Film Materials Research Center, Korea Institute of Science and Technology
Kim, T. W.; Division of Electrical and Computer Engineering, Hanyang University, Korea
Choi, W. K.; Thin Film Materials Research Center, Korea Institute of Science and Technology


Михайличенко, А. И.
    Извлечение цинка из агломерата отходов отработанных сухих гальванических элементов / А. И. Михайличенко, Е. С. Свердел, Г. А. Ягодин // Химическая промышленность сегодня. - N 7 (2009), С. 24-30. - Библиогр.: c. 30 (9 назв. )

УДК
ББК 31.2 + 34.23/25

Рубрики: Энергетика

   Электротехника в целом


   Технология металлов


   Металловедение цветных металлов и сплавов


Кл.слова (ненормированные):
отходы солевых гальванических элементов -- выщелачивание -- сухие гальванические элементы -- водный раствор аммиака -- оксид цинка -- диоксид марганца -- агломерат -- комплекс [Zn (NH[3]) [4]] (OH) [2] -- жидкая фаза -- твердая фаза -- извлечение цинка
Аннотация: Изучены условия извлечения цинка из агломерата отходов солевых и щелочных сухих гальванических элементов - порошкообразной смеси оксида цинка и диоксида марганца. При выщелачивании концентрированными водными растворами аммиака цинк практически нацело переходит в жидкую фазу в виде комплекса [Zn (NH[3]) [4]] (OH) [2], а марганец остается в твердой фазе.
Доп.точки доступа:
Свердел, Е. С.
Ягодин, Г. А.

Михайличенко, А. И. Извлечение цинка из агломерата отходов отработанных сухих гальванических элементов [Текст] / А. И. Михайличенко, Е. С. Свердел, Г. А. Ягодин // Химическая промышленность сегодня. - N 7 (2009), С. 24-30

6.

Михайличенко, А. И. Извлечение цинка из агломерата отходов отработанных сухих гальванических элементов [Текст] / А. И. Михайличенко, Е. С. Свердел, Г. А. Ягодин // Химическая промышленность сегодня. - N 7 (2009), С. 24-30



Михайличенко, А. И.
    Извлечение цинка из агломерата отходов отработанных сухих гальванических элементов / А. И. Михайличенко, Е. С. Свердел, Г. А. Ягодин // Химическая промышленность сегодня. - N 7 (2009), С. 24-30. - Библиогр.: c. 30 (9 назв. )

УДК
ББК 31.2 + 34.23/25

Рубрики: Энергетика

   Электротехника в целом


   Технология металлов


   Металловедение цветных металлов и сплавов


Кл.слова (ненормированные):
отходы солевых гальванических элементов -- выщелачивание -- сухие гальванические элементы -- водный раствор аммиака -- оксид цинка -- диоксид марганца -- агломерат -- комплекс [Zn (NH[3]) [4]] (OH) [2] -- жидкая фаза -- твердая фаза -- извлечение цинка
Аннотация: Изучены условия извлечения цинка из агломерата отходов солевых и щелочных сухих гальванических элементов - порошкообразной смеси оксида цинка и диоксида марганца. При выщелачивании концентрированными водными растворами аммиака цинк практически нацело переходит в жидкую фазу в виде комплекса [Zn (NH[3]) [4]] (OH) [2], а марганец остается в твердой фазе.
Доп.точки доступа:
Свердел, Е. С.
Ягодин, Г. А.

Page 1, Results: 6

 

All acquisitions for 
Or select a month