Skip to content
Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ
Page 1, Results: 7
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Лазерная техника и технология : учебное пособие для студентов технических вузов : в 7 кн / А. Г. Григорьянц, А. А. Соколов ; под ред. А. Г. Григорьянца. - Москва : Высшая школа, 1988 - . - (Лазерная техника и технология).
Кн. 7 : Лазерная резка металлов. - 127 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 125
Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- резка лазерная -- непрерывное лазерное излучение -- импульсно-периодическое лазерное излучение -- оптические параметры лазерной резки -- газодинамические параметры лазерной резки -- энергетические параметры лазерной резки
Доп.точки доступа:
Григорьянц, Александр Григорьевич \ед.\
Соколов, Александр Анатольевич
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Абонемент 402 (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент 402 (1)
Лазерная техника и технология : учебное пособие для студентов технических вузов : в 7 кн / А. Г. Григорьянц, А. А. Соколов ; под ред. А. Г. Григорьянца. - Москва : Высшая школа, 1988 - . - (Лазерная техника и технология).
Кн. 7 : Лазерная резка металлов. - 127 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 125
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- резка лазерная -- непрерывное лазерное излучение -- импульсно-периодическое лазерное излучение -- оптические параметры лазерной резки -- газодинамические параметры лазерной резки -- энергетические параметры лазерной резки
Доп.точки доступа:
Григорьянц, Александр Григорьевич \ед.\
Соколов, Александр Анатольевич
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Абонемент 402 (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент 402 (1)
2.
Подробнее
Спектральный магнитоэллипсометр / С. В. Рыхлицкий [и др. ] // Приборы и техника эксперимента. - N 5 (2009), С. 166-167. - Библиогр.: с. 167 (2 назв. )
ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
магнитоэллипсометры -- спектральные магнитоэллипсометры -- оптические параметры -- оптические свойства -- поверхностные микроструктуры -- тонкопленочные слои
Аннотация: Комплекс предназначен для измерения оптических параметров поверхностных микроструктур, а также распределения оптических свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев по поверхности образца с высоким пространственным разрешением. Комплекс является эффективным аналитическим средством для исследования и контроля параметров поверхности в следующих областях: физика и химия поверхности; физика и химия тонких пленок; физика полупроводников, микро- и нано-электроника; кристаллофизика и оптика.
Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С. В.
Швец, В. А.
Спесивцев, Е. В.
Прокопьев, В. Ю.
Спектральный магнитоэллипсометр / С. В. Рыхлицкий [и др. ] // Приборы и техника эксперимента. - N 5 (2009), С. 166-167. - Библиогр.: с. 167 (2 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
магнитоэллипсометры -- спектральные магнитоэллипсометры -- оптические параметры -- оптические свойства -- поверхностные микроструктуры -- тонкопленочные слои
Аннотация: Комплекс предназначен для измерения оптических параметров поверхностных микроструктур, а также распределения оптических свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев по поверхности образца с высоким пространственным разрешением. Комплекс является эффективным аналитическим средством для исследования и контроля параметров поверхности в следующих областях: физика и химия поверхности; физика и химия тонких пленок; физика полупроводников, микро- и нано-электроника; кристаллофизика и оптика.
Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С. В.
Швец, В. А.
Спесивцев, Е. В.
Прокопьев, В. Ю.
3.
Подробнее
Антропов, Е. Т.
Рефлектометрия лазерных зеркал и высокоотражающих оптических элементов / Е. Т. Антропов, П. А. Параев ; под ред. В. Т. Карпухина ; Институт высоких температур. ; Институт высоких температур (Москва). - Москва : [б. и.], 1987. - 87 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 83-86.
Кл.слова (ненормированные):
рефлектометры -- лазерные зеркала -- оптические элементы -- коэффициент отражения -- оптические измерительные схемы -- лазерная техника -- оптические параметры -- Стронга метод -- калориметрические измерения
Доп.точки доступа:
Параев, П. А.
Карпухин, В. Т. \ред.\
Институт высоких температур (Москва)
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Антропов, Е. Т.
Рефлектометрия лазерных зеркал и высокоотражающих оптических элементов / Е. Т. Антропов, П. А. Параев ; под ред. В. Т. Карпухина ; Институт высоких температур. ; Институт высоких температур (Москва). - Москва : [б. и.], 1987. - 87 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 83-86.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
рефлектометры -- лазерные зеркала -- оптические элементы -- коэффициент отражения -- оптические измерительные схемы -- лазерная техника -- оптические параметры -- Стронга метод -- калориметрические измерения
Доп.точки доступа:
Параев, П. А.
Карпухин, В. Т. \ред.\
Институт высоких температур (Москва)
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
4.
Подробнее
Котова, С. П.
Применение нейронных сетей для определения оптических параметров сильно рассеивающих сред по профилю интенсивности рассеянного назад излучения / С. П. Котова, И. В. Майоров, А. М. Майорова // Квантовая электроника. - Т. 37, N 1 (2007), С. 22-26. - Библиогр.: с. 26 (19 назв. ). - Ил.: 2 рис., 1 табл.
ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
нейронные сети -- рассеивающие среды -- рассеянное назад излучение -- оптические параметры -- Монте-Карло метод -- метод Монте-Карло -- гибридные системы
Аннотация: Анализируются возможности одновременного определения трех оптических параметров рассеивающих сред, а именно коэффициента рассеяния, коэффициента поглощения и параметра анизотропии рассеяния по профилю интенсивности рассеянного назад излучения с использованием метода обращения нейронной сети, а также метода гибридной нечеткой системы с последующим ее обращением.
Доп.точки доступа:
Майоров, И. В.
Майорова, А. М
Котова, С. П.
Применение нейронных сетей для определения оптических параметров сильно рассеивающих сред по профилю интенсивности рассеянного назад излучения / С. П. Котова, И. В. Майоров, А. М. Майорова // Квантовая электроника. - Т. 37, N 1 (2007), С. 22-26. - Библиогр.: с. 26 (19 назв. ). - Ил.: 2 рис., 1 табл.
| УДК |
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
нейронные сети -- рассеивающие среды -- рассеянное назад излучение -- оптические параметры -- Монте-Карло метод -- метод Монте-Карло -- гибридные системы
Аннотация: Анализируются возможности одновременного определения трех оптических параметров рассеивающих сред, а именно коэффициента рассеяния, коэффициента поглощения и параметра анизотропии рассеяния по профилю интенсивности рассеянного назад излучения с использованием метода обращения нейронной сети, а также метода гибридной нечеткой системы с последующим ее обращением.
Доп.точки доступа:
Майоров, И. В.
Майорова, А. М
5.
Подробнее
Хасанов, Т.
Чувствительный метод определения оптических постоянных одноосных кристаллов / Т. Хасанов; ???? поступила в редакцию 23. 03. 2007 г. // Радиотехника и электроника. - Т. 52, N 9 (2007), С. 1160-1166. - Библиогр.: с. 1166 (24 назв. )
ББК 32 + 22.34
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика-- Оптика
Кл.слова (ненормированные):
одноосные кристаллы -- оптические параметры -- кристаллический кварц
Аннотация: Предложен простой чувствительный метод экспериментального определения толщины пластинки из одноосного кристалла и его показателей преломления соответственно с точностью до 10&-3; мкм и 10&-6;. Показано, что в этом методе максимальная точность определения оптических параметров ограничивается флуктуациями температуры внутри кристалла. Представлены экспериментальные результаты определения температурных коэффициентов показателей преломления и линейного расширения для плоскопараллельной пластинки из искусственного кристаллического кварца, врезанного параллельно оптической оси.
Хасанов, Т.
Чувствительный метод определения оптических постоянных одноосных кристаллов / Т. Хасанов; ???? поступила в редакцию 23. 03. 2007 г. // Радиотехника и электроника. - Т. 52, N 9 (2007), С. 1160-1166. - Библиогр.: с. 1166 (24 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика-- Оптика
Кл.слова (ненормированные):
одноосные кристаллы -- оптические параметры -- кристаллический кварц
Аннотация: Предложен простой чувствительный метод экспериментального определения толщины пластинки из одноосного кристалла и его показателей преломления соответственно с точностью до 10&-3; мкм и 10&-6;. Показано, что в этом методе максимальная точность определения оптических параметров ограничивается флуктуациями температуры внутри кристалла. Представлены экспериментальные результаты определения температурных коэффициентов показателей преломления и линейного расширения для плоскопараллельной пластинки из искусственного кристаллического кварца, врезанного параллельно оптической оси.
6.
Подробнее
Сканирующий эллипсометрический комплекс МИКРОСКАН-3М / С. В. Рыхлицкий [и др. ] // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 155-156. - Библиогр.: с. 156 (3 назв. )
ББК 30.68
Рубрики: Техника
Обработка материалов
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКАН-3М -- оптические параметры -- сканирующие комплексы -- эллипсометрические комплексы -- тонкопленочные слои -- эллипсометрические измерения
Аннотация: Комплекс предназначен для измерения оптических параметров поверхностных микроструктур, а также распределения оптических свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев по поверхности образца с высоким пространственным разрешением.
Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С. В.
Спесивцев, В. А.
Швец, В. А.
Прокопьев, В. Ю.
Сканирующий эллипсометрический комплекс МИКРОСКАН-3М / С. В. Рыхлицкий [и др. ] // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 155-156. - Библиогр.: с. 156 (3 назв. )
| УДК |
Рубрики: Техника
Обработка материалов
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКАН-3М -- оптические параметры -- сканирующие комплексы -- эллипсометрические комплексы -- тонкопленочные слои -- эллипсометрические измерения
Аннотация: Комплекс предназначен для измерения оптических параметров поверхностных микроструктур, а также распределения оптических свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев по поверхности образца с высоким пространственным разрешением.
Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С. В.
Спесивцев, В. А.
Швец, В. А.
Прокопьев, В. Ю.
7.
Подробнее
Шалин, А. С.
Эффективные оптические параметры упорядоченных нанокомпозитов / А. С. Шалин // Радиотехника и электроника. - Т. 54, N 6 (2009), С. 733-741. - Библиогр.: с. 741 (35 назв. )
ББК 22.342 + 22.374
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
нанокомпозиты -- наноструктурные материалы -- оптические поля -- теорема погашения -- оптические параметры нанокомпозитов
Аннотация: На основе теории интегральных уравнений рассмотрены упорядоченные нанокомпозитные образования, состоящие из металлических (золотых) наночастиц, помещенных в непроводящую матрицу (для упрощения в качестве матрицы взят вакуум). Применимость предложенного метода подтверждена точным электродинамическим расчетом методом конечных элементов. Получены и исследованы выражения для оптических полей внутри и вне системы. Показано, что упорядочение частиц позволяет существенно снизить их эффективный коэффициент поглощения за счет взаимного
Шалин, А. С.
Эффективные оптические параметры упорядоченных нанокомпозитов / А. С. Шалин // Радиотехника и электроника. - Т. 54, N 6 (2009), С. 733-741. - Библиогр.: с. 741 (35 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
нанокомпозиты -- наноструктурные материалы -- оптические поля -- теорема погашения -- оптические параметры нанокомпозитов
Аннотация: На основе теории интегральных уравнений рассмотрены упорядоченные нанокомпозитные образования, состоящие из металлических (золотых) наночастиц, помещенных в непроводящую матрицу (для упрощения в качестве матрицы взят вакуум). Применимость предложенного метода подтверждена точным электродинамическим расчетом методом конечных элементов. Получены и исследованы выражения для оптических полей внутри и вне системы. Показано, что упорядочение частиц позволяет существенно снизить их эффективный коэффициент поглощения за счет взаимного
Page 1, Results: 7