Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко. - Москва : Высшая школа, 1968. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 314-316
Прил. : с. 307-313
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура -- ремонтопригодность -- теория контроля -- теория надежности -- параметры надежности
Доп.точки доступа:
Быкадоров, Александр Константинович
Кульбак, Леонид Игоревич
Лавриненко, Владимир Юлианович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко. - Москва : Высшая школа, 1968. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 314-316
Прил. : с. 307-313
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура -- ремонтопригодность -- теория контроля -- теория надежности -- параметры надежности
Доп.точки доступа:
Быкадоров, Александр Константинович
Кульбак, Леонид Игоревич
Лавриненко, Владимир Юлианович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57
Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 2