Электронный каталог


 

Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ

Page 1, Results: 1

Report on unfulfilled requests: 0

621.315(075.8) Р 944
Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика. - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 c. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. : с. 51 . - ISBN 5020249564

УДК

Рубрики: полупроводники--исследование--cканирующая микроскопия зондовая--учебные издания для вузов

   наноструктуры--исследование--сканирующая микроскопия зондовая--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы, исследование -- туннелирование -- наноструктуры, исследование -- микроскопы атомарно-силовые -- микроскопия наноструктур -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие оптические микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия
Доп.точки доступа:
Шик, А. Я. \ред.\
Ильин, В. И. \ред.\

Экземпляры всего: 5
Абонемент учебной и научной литературы (Пушкинская, 10) (2), Абонемент учебной и научной литературы (2), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (Пушкинская, 10) (2), Абонемент учебной и научной литературы (2), Ч/З о. Русский (1)

Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика, 2001. - 52 c. с.

1.

Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика, 2001. - 52 c. с.


621.315(075.8) Р 944
Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учебное пособие для вузов / С. А. Рыков ; под общ. ред. В. И. Ильина, А. Я. Шика. - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 c. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. : с. 51 . - ISBN 5020249564

УДК

Рубрики: полупроводники--исследование--cканирующая микроскопия зондовая--учебные издания для вузов

   наноструктуры--исследование--сканирующая микроскопия зондовая--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы, исследование -- туннелирование -- наноструктуры, исследование -- микроскопы атомарно-силовые -- микроскопия наноструктур -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие оптические микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия
Доп.точки доступа:
Шик, А. Я. \ред.\
Ильин, В. И. \ред.\

Экземпляры всего: 5
Абонемент учебной и научной литературы (Пушкинская, 10) (2), Абонемент учебной и научной литературы (2), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (Пушкинская, 10) (2), Абонемент учебной и научной литературы (2), Ч/З о. Русский (1)

Page 1, Results: 1

 

All acquisitions for 
Or select a month