Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57
Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 1