Skip to content
Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ
Page 1, Results: 1
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Новиков, Ю. А.
Прямое измерение ширины линий на атомно-силовом микроскопе / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 5 (2008), С. 10-12
ББК 30.3 + 22.338 + 22.37
Рубрики: Техника
Материаловедение
Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- ширина линии -- сигналы -- производные сигналов -- атомно-силовая микроскопия -- нанотехнологии
Аннотация: Представлен метод прямого измерения ширины линии на атомно-силовом микроскопе с использованием первой производной сигнала.
Доп.точки доступа:
Раков, А. В.
Тодуа, П. А.
Новиков, Ю. А.
Прямое измерение ширины линий на атомно-силовом микроскопе / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 5 (2008), С. 10-12
| УДК |
Рубрики: Техника
Материаловедение
Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- ширина линии -- сигналы -- производные сигналов -- атомно-силовая микроскопия -- нанотехнологии
Аннотация: Представлен метод прямого измерения ширины линии на атомно-силовом микроскопе с использованием первой производной сигнала.
Доп.точки доступа:
Раков, А. В.
Тодуа, П. А.
Page 1, Results: 1