Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 12
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Металловедение и термическая обработка стали : справочник / [Б. С. Бокштейн, Ю. Г. Векслер, М. И. Виноград и др.] ; под ред. : М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - Изд. 3-е, перераб. и доп. - Москва : Металлургия, 1983 - . - (Справочник. ; т. 3.).
в 3 т. : т. 1 : Методы испытаний и исследований. - 352 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 347-352.
Кл.слова (ненормированные):
исследование макро- и микроструктуры -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- стереология -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- механические свойства металлов -- статические испытания металлов -- модули упругости металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания -- физические методы исследований -- металлургический контроль качества
Доп.точки доступа:
Бокштейн, Борис Сергеевич
Векслер, Юрий Генрихович
Виноград, Мария Ипполитовна
Бернштейн, Марк Львович \ед.\
Рахштадт, Александр Григорьевич \ед.\
Экземпляры всего: 8
Абонемент учебной и научной литературы (402) (7), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (7), Ч/З о. Русский (1)
Металловедение и термическая обработка стали : справочник / [Б. С. Бокштейн, Ю. Г. Векслер, М. И. Виноград и др.] ; под ред. : М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - Изд. 3-е, перераб. и доп. - Москва : Металлургия, 1983 - . - (Справочник. ; т. 3.).
в 3 т. : т. 1 : Методы испытаний и исследований. - 352 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 347-352.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование макро- и микроструктуры -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- стереология -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- ядерный гамма-резонанс -- радиоспектроскопия -- механические свойства металлов -- статические испытания металлов -- модули упругости металлов -- динамические испытания металлов -- циклические испытания -- физические методы исследований -- металлургический контроль качества
Доп.точки доступа:
Бокштейн, Борис Сергеевич
Векслер, Юрий Генрихович
Виноград, Мария Ипполитовна
Бернштейн, Марк Львович \ед.\
Рахштадт, Александр Григорьевич \ед.\
Экземпляры всего: 8
Абонемент учебной и научной литературы (402) (7), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (7), Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ топливных композиций ядерных энергетических реакторов / В. Н. Голованов, Ф. Н. Крюков, С. В. Кузьмин [и др.] ; Ульяновский государственный университет. - Ульяновск : [Изд-во Ульяновского университета], 2006. - 142 с. : табл., ил., фотоил. - Библиогр. : с. 138 - 142.. - ISBN 5888662593
Рубрики: ядерные реакторы--топливные элементы--рентгеноспектральный микроанализ--монографии
Кл.слова (ненормированные):
ядерные энергетические реакторы -- ядерное топливо -- ядерные силовые установки -- высокорадиоактивные материалы -- рентгеноспектральный микроанализ -- реакторное материаловедение -- облученное топливо, анализ -- твэлы (ядерная энергетика) -- ВВЭР (водо-водяной энергетический реактор) -- РБМК (реактор большой мощности канальный) -- уран-гадолиниевое топливо
Доп.точки доступа:
Голованов, В. Н.
Крюков, Ф. Н.
Кузьмин, С. В.
Ульяновский государственный университет
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ топливных композиций ядерных энергетических реакторов / В. Н. Голованов, Ф. Н. Крюков, С. В. Кузьмин [и др.] ; Ульяновский государственный университет. - Ульяновск : [Изд-во Ульяновского университета], 2006. - 142 с. : табл., ил., фотоил. - Библиогр. : с. 138 - 142.. - ISBN 5888662593
| УДК |
Рубрики: ядерные реакторы--топливные элементы--рентгеноспектральный микроанализ--монографии
Кл.слова (ненормированные):
ядерные энергетические реакторы -- ядерное топливо -- ядерные силовые установки -- высокорадиоактивные материалы -- рентгеноспектральный микроанализ -- реакторное материаловедение -- облученное топливо, анализ -- твэлы (ядерная энергетика) -- ВВЭР (водо-водяной энергетический реактор) -- РБМК (реактор большой мощности канальный) -- уран-гадолиниевое топливо
Доп.точки доступа:
Голованов, В. Н.
Крюков, Ф. Н.
Кузьмин, С. В.
Ульяновский государственный университет
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 c. : ил. - Библиогр. : с. 127-135.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковые материалы -- электронно-зондовые методы -- рентгеноспектральный микроанализ -- техника эксперимента микроанализа
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 c. : ил. - Библиогр. : с. 127-135.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковые материалы -- электронно-зондовые методы -- рентгеноспектральный микроанализ -- техника эксперимента микроанализа
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
5.
Подробнее
Методы исследования и испытания металлических материалов : учебное пособие / А. А. Попович, И. Н. Мутылина, Т. А. Попович [и др.] ; Дальневосточный государственный технический университет. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного технического университета, 2008 - . - (Инновационная образовательная программа ДВГТУ.).
ч. 1 / Дальневосточный государственный технический университет (Владивосток). - 163 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 140-141.. - ISBN 9785759608097
Рубрики: металловедение
Кл.слова (ненормированные):
методы структурного исследования -- макроскопический анализ -- микроскопический анализ -- фазовый рентгенографический анализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- механические испытания -- структура алюминиевых сплавов
Доп.точки доступа:
Попович, Анатолий Анатольевич
Мутылина, Ирина Николаевна
Попович, Татьяна Алексеевна
Дальневосточный государственный технический университет (Владивосток)
Экземпляры всего: 41
ЕКВ ауд.402 учебная (38), Ч/З о. Русский (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (38), Ч/З о. Русский (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Методы исследования и испытания металлических материалов : учебное пособие / А. А. Попович, И. Н. Мутылина, Т. А. Попович [и др.] ; Дальневосточный государственный технический университет. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного технического университета, 2008 - . - (Инновационная образовательная программа ДВГТУ.).
ч. 1 / Дальневосточный государственный технический университет (Владивосток). - 163 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 140-141.. - ISBN 9785759608097
| УДК |
Рубрики: металловедение
Кл.слова (ненормированные):
методы структурного исследования -- макроскопический анализ -- микроскопический анализ -- фазовый рентгенографический анализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- механические испытания -- структура алюминиевых сплавов
Доп.точки доступа:
Попович, Анатолий Анатольевич
Мутылина, Ирина Николаевна
Попович, Татьяна Алексеевна
Дальневосточный государственный технический университет (Владивосток)
Экземпляры всего: 41
ЕКВ ауд.402 учебная (38), Ч/З о. Русский (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (38), Ч/З о. Русский (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
6.
Подробнее
Международная минералогическая ассоциация., Съезд. (11 ;, 1978 ;, Новосибирск).
Тезисы докладов . / Международная минералогическая ассоциация, Институт геологии и геофизики СО АН СССР [и др.] ; [ред. кол. : Н. В. Соболев (гл. ред.) и др.]. - Новосибирск : [б. и.], 1978 - .
т. 2 / Институт геологии и геофизики (Новосибирск). - 192 с. : табл.
Рубрики: минералогия--материалы конференции (съезда, симпозиума)
Кл.слова (ненормированные):
природные алмазы -- минеральные включения (алмазы) -- гранаты (минералогия) -- пироксены -- самородное золото -- драгоценные камни -- рентгеноспектральный микроанализ (минералогия) -- фтор (содержание в минералах) -- неоднородности минералов -- Минеевы (библиотека)
Доп.точки доступа:
Соболев, Н. В. \ед.\
Институт геологии и геофизики (Новосибирск)
Экземпляры всего: 1
Ч/З Редкая книга (1)
Свободны: Ч/З Редкая книга (1)
Международная минералогическая ассоциация., Съезд. (11 ;, 1978 ;, Новосибирск).
Тезисы докладов . / Международная минералогическая ассоциация, Институт геологии и геофизики СО АН СССР [и др.] ; [ред. кол. : Н. В. Соболев (гл. ред.) и др.]. - Новосибирск : [б. и.], 1978 - .
т. 2 / Институт геологии и геофизики (Новосибирск). - 192 с. : табл.
| УДК |
Рубрики: минералогия--материалы конференции (съезда, симпозиума)
Кл.слова (ненормированные):
природные алмазы -- минеральные включения (алмазы) -- гранаты (минералогия) -- пироксены -- самородное золото -- драгоценные камни -- рентгеноспектральный микроанализ (минералогия) -- фтор (содержание в минералах) -- неоднородности минералов -- Минеевы (библиотека)
Доп.точки доступа:
Соболев, Н. В. \ед.\
Институт геологии и геофизики (Новосибирск)
Экземпляры всего: 1
Ч/З Редкая книга (1)
Свободны: Ч/З Редкая книга (1)
7.
Подробнее
Влияние алюминия на диффузию никеля и хрома в медь при нанесении и термообработке газотермических покрытий / А. Г. Радюк [и др. ] // Известия вузов. Цветная металлургия. - N 4 (2008), С. 48-50. - Библиогр.: c. 50 (4 назв. )
ББК 34.33
Рубрики: Технология металлов
Металлургия цветных металлов
Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- газотермические покрытия -- медь -- концентрация элементов в диффузионном слое -- термическая обработка -- электродуговая металлизация
Аннотация: Методом рентгеноспектрального микроанализа исследовано распределение элементов по толщине диффузионного слоя, полученного в результате нанесения на медь газотермических покрытий, содержащих AL, Ni, Cr, Fe и последующей термообработки. Установлено, что глубина проникновения и концентрация элементов покрытия в меди достигают максимальных значений в случае создания алюминиевого подслоя.
Доп.точки доступа:
Радюк, А. Г.
Титлянов, Т. И.
Стрижакова, Т. И.
Кузнецов, В. Е.
Украинцев, А. Е.
Влияние алюминия на диффузию никеля и хрома в медь при нанесении и термообработке газотермических покрытий / А. Г. Радюк [и др. ] // Известия вузов. Цветная металлургия. - N 4 (2008), С. 48-50. - Библиогр.: c. 50 (4 назв. )
| УДК |
Рубрики: Технология металлов
Металлургия цветных металлов
Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- газотермические покрытия -- медь -- концентрация элементов в диффузионном слое -- термическая обработка -- электродуговая металлизация
Аннотация: Методом рентгеноспектрального микроанализа исследовано распределение элементов по толщине диффузионного слоя, полученного в результате нанесения на медь газотермических покрытий, содержащих AL, Ni, Cr, Fe и последующей термообработки. Установлено, что глубина проникновения и концентрация элементов покрытия в меди достигают максимальных значений в случае создания алюминиевого подслоя.
Доп.точки доступа:
Радюк, А. Г.
Титлянов, Т. И.
Стрижакова, Т. И.
Кузнецов, В. Е.
Украинцев, А. Е.
8.
Подробнее
Лаврентьев, Ю. Г.; Институт геологии и минералогии СО РАН, г. Новосибирск
Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор) / Ю. Г. Лаврентьев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - Т. 75, N 8 (2009), С. 4-10. - Библиогр.: с. 10 (26 назв. )
ББК 24.46/48 + 32.973-018.2
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Вычислительная техника
Имитационное компьютерное моделирование
Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- микроанализ -- минералы -- электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ -- методы коррекции -- электронно-зондовые приборы -- phi-rho-z-моделирование -- микроанализаторы -- метод ZAF -- ZAF метод -- сильноточный рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Рассмотрены основные тенденции развития рентгеноспектрального микроанализа минералов.
Лаврентьев, Ю. Г.; Институт геологии и минералогии СО РАН, г. Новосибирск
Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор) / Ю. Г. Лаврентьев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - Т. 75, N 8 (2009), С. 4-10. - Библиогр.: с. 10 (26 назв. )
| УДК |
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Вычислительная техника
Имитационное компьютерное моделирование
Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- микроанализ -- минералы -- электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ -- методы коррекции -- электронно-зондовые приборы -- phi-rho-z-моделирование -- микроанализаторы -- метод ZAF -- ZAF метод -- сильноточный рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Рассмотрены основные тенденции развития рентгеноспектрального микроанализа минералов.
9.
Подробнее
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ / под ред. Ф. Вейнберга ; предисл. В. Н. Колесникова. - Москва : Мир, 1974 - .
вып. 2. - 364 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
металловедение -- физическое металловедение -- приборы металловедения -- металлографические методы исследования -- микроскопия (виды) -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрография -- методы металловедения
Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ед.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ / под ред. Ф. Вейнберга ; предисл. В. Н. Колесникова. - Москва : Мир, 1974 - .
вып. 2. - 364 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
металловедение -- физическое металловедение -- приборы металловедения -- металлографические методы исследования -- микроскопия (виды) -- рентгеноспектральный микроанализ -- эмиссионный спектральный анализ -- атомная абсорбционная спектрография -- методы металловедения
Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ед.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
10.
Подробнее
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 127-135.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- рентгеноспектральный микроанализ -- полупроводниковые приборы -- электронов отраженных применение -- электронов вторичных применение -- катодолюминесценция -- электронно-зондовые исследования полупроводниковых приборов -- тонкого электронного зонда метод применения -- электронный микроскоп -- электронная микроскопия -- растровой микроскопии история развития -- методы исследования полупроводниковых приборов
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 127-135.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- рентгеноспектральный микроанализ -- полупроводниковые приборы -- электронов отраженных применение -- электронов вторичных применение -- катодолюминесценция -- электронно-зондовые исследования полупроводниковых приборов -- тонкого электронного зонда метод применения -- электронный микроскоп -- электронная микроскопия -- растровой микроскопии история развития -- методы исследования полупроводниковых приборов
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 12