Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 5
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Касаткин, Э. В.
Использование электрохимического сканирующего туннельного микроскопа для исследования поверхностей металлов и выявления природы и количества активных центров / Э. В. Касаткин // Защита металлов. - Т. 41, N 1 (2005), С. 15-25. - Библиогр.: с. 25 (15 назв. )
ББК 24.5
Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- сканирующие микроскопы -- тунельные микроскопы -- металлы -- активные центры -- монокристаллы -- поликристаллы -- электроды
Аннотация: Проанализированы результаты измерений на сканирующем туннельном микроскопе для выявления и количественной оценки относительного числа и свойств туннельно-активных центров на поверхности металлов.
Касаткин, Э. В.
Использование электрохимического сканирующего туннельного микроскопа для исследования поверхностей металлов и выявления природы и количества активных центров / Э. В. Касаткин // Защита металлов. - Т. 41, N 1 (2005), С. 15-25. - Библиогр.: с. 25 (15 назв. )
| УДК |
Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- сканирующие микроскопы -- тунельные микроскопы -- металлы -- активные центры -- монокристаллы -- поликристаллы -- электроды
Аннотация: Проанализированы результаты измерений на сканирующем туннельном микроскопе для выявления и количественной оценки относительного числа и свойств туннельно-активных центров на поверхности металлов.
2.
Подробнее
Измерение высоты ступени в нанометровом диапазоне с помощью лазерного микроинтерферометра / А. Н. Королев [и др. ] // Измерительная техника. - N 4 (2005), С. 29-33
ББК 30.10
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
интерференция -- микроинтерферометры -- нанометрология -- мера высоты ступени -- лазерные микроинтерферометры -- прецизионные технологии -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Предложена оптическая схема микроинтерферометра для измерения высоты микроступени с нанометровым разрешением и оценены составляющие погрешности.
Доп.точки доступа:
Королев, А. Н.
Лукин, А. Я.
Коротков, В. И.
Пулькин, С. А.
Сизов, А. Л.
Измерение высоты ступени в нанометровом диапазоне с помощью лазерного микроинтерферометра / А. Н. Королев [и др. ] // Измерительная техника. - N 4 (2005), С. 29-33
| УДК |
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
интерференция -- микроинтерферометры -- нанометрология -- мера высоты ступени -- лазерные микроинтерферометры -- прецизионные технологии -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Предложена оптическая схема микроинтерферометра для измерения высоты микроступени с нанометровым разрешением и оценены составляющие погрешности.
Доп.точки доступа:
Королев, А. Н.
Лукин, А. Я.
Коротков, В. И.
Пулькин, С. А.
Сизов, А. Л.
3.
Подробнее
Раков, А. В.
Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 6 (2008), С. 12-14
ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- сканирование -- серийные микроскопы -- измерения -- линейность сканирования -- методы измерения линейности сканирования -- атомно-силовая микроскопия -- измерительные атомно-силовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Представлен метод измерения линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе, основанный на использовании первой производной его сигнала.
Доп.точки доступа:
Новиков, Ю. А.
Тодуа, П. А.
Раков, А. В.
Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 6 (2008), С. 12-14
| УДК |
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- сканирование -- серийные микроскопы -- измерения -- линейность сканирования -- методы измерения линейности сканирования -- атомно-силовая микроскопия -- измерительные атомно-силовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Представлен метод измерения линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе, основанный на использовании первой производной его сигнала.
Доп.точки доступа:
Новиков, Ю. А.
Тодуа, П. А.
4.
Подробнее
Жуков, В. А.; Санкт-Петербургский ин-т информатики и автоматизации РАН
Возможность получения разрешения 1. 6 нм и менее в низковольтном микро FIB без применения корректора хроматической аберрации / В. А. Жуков // Микроэлектроника. - Т. 37, N 2 (2008), С. 111-120. - Библиогр.: с. 120 (22 назв. )
ББК 22.33 + 32.85
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм
Радиоэлектроника
Электроника
Кл.слова (ненормированные):
корректоры -- хроматическая аберрация -- низковольтные микро FIB -- предельные разрешения -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- FIB -- Focused Ion Beam (сканирующие ионные микроскопы) -- ионные микроскопы -- ионно-электронная эмиссия -- электромагнитные зеркала -- комбинированные электромагнитные зеркала -- ионно-оптические системы
Аннотация: Работа представляет собой вторую часть в серии из двух статей, посвященных исследованию методов получения предельного разрешения в сканирующих ионных микроскопах (Focused Ion Beam или FIB). В работе предлагается альтернатива предложенному в первой части работы методу улучшения разрешения FIB, использующему четыре новых для FIB фактора: 1) новые уникальные источники ионов, имеющие радиус области эмиссии = 1 нм, 2) ионы, имеющие на мишени низкую энергию = 300 эВ, 3) потенциальную вторичную ионно-электронную эмиссию для образования изображения объекта и 4) к
Жуков, В. А.; Санкт-Петербургский ин-т информатики и автоматизации РАН
Возможность получения разрешения 1. 6 нм и менее в низковольтном микро FIB без применения корректора хроматической аберрации / В. А. Жуков // Микроэлектроника. - Т. 37, N 2 (2008), С. 111-120. - Библиогр.: с. 120 (22 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм
Радиоэлектроника
Электроника
Кл.слова (ненормированные):
корректоры -- хроматическая аберрация -- низковольтные микро FIB -- предельные разрешения -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- FIB -- Focused Ion Beam (сканирующие ионные микроскопы) -- ионные микроскопы -- ионно-электронная эмиссия -- электромагнитные зеркала -- комбинированные электромагнитные зеркала -- ионно-оптические системы
Аннотация: Работа представляет собой вторую часть в серии из двух статей, посвященных исследованию методов получения предельного разрешения в сканирующих ионных микроскопах (Focused Ion Beam или FIB). В работе предлагается альтернатива предложенному в первой части работы методу улучшения разрешения FIB, использующему четыре новых для FIB фактора: 1) новые уникальные источники ионов, имеющие радиус области эмиссии = 1 нм, 2) ионы, имеющие на мишени низкую энергию = 300 эВ, 3) потенциальную вторичную ионно-электронную эмиссию для образования изображения объекта и 4) к
5.
Подробнее
Жуков, А. А.
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования электронного транспорта при низких температурах / А. А. Жуков // Приборы и техника эксперимента. - N 1 (2008), С. 142-146. - Библиогр.: с. 146 (15 назв. )
ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- электронный транспорт -- низкие температуры -- нанотрубки
Аннотация: Изготовлен сканирующий зондовый микроскоп, позволяющий исследовать свойства электронного транспорта, в частности, в углеродных нанотрубах при криогенных температурах.
Жуков, А. А.
Сканирующий зондовый микроскоп для исследования электронного транспорта при низких температурах / А. А. Жуков // Приборы и техника эксперимента. - N 1 (2008), С. 142-146. - Библиогр.: с. 146 (15 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- электронный транспорт -- низкие температуры -- нанотрубки
Аннотация: Изготовлен сканирующий зондовый микроскоп, позволяющий исследовать свойства электронного транспорта, в частности, в углеродных нанотрубах при криогенных температурах.
Page 1, Results: 5