Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Ланкин, М. В.
Метрологическое обеспечение процессорных средств испытания постоянных магнитов [Текст] / М. В. Ланкин // Известия вузов. Электромеханика. - N 3 (2004), С. 69-73. - Библиогр.: с. 73 (5 назв. )
Кл.слова (ненормированные):
магниты -- постоянные магниты -- процессорные средства -- процессорные измерители -- средства испытания -- метрологическое обеспечение
Аннотация: Рассматриваются типовые структурные схемы процессорных измерительных средств испытания постоянных магнитов (ПрИС-ИПМ) и алгоритмы преобразования измерительной информации. ПАолучено разложение полной, методической и инструментальной погрешностей на составляющие, что создает предпосылки для исследования зависимости значения погрешностей от различных факторов.
Ланкин, М. В.
Метрологическое обеспечение процессорных средств испытания постоянных магнитов [Текст] / М. В. Ланкин // Известия вузов. Электромеханика. - N 3 (2004), С. 69-73. - Библиогр.: с. 73 (5 назв. )
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
магниты -- постоянные магниты -- процессорные средства -- процессорные измерители -- средства испытания -- метрологическое обеспечение
Аннотация: Рассматриваются типовые структурные схемы процессорных измерительных средств испытания постоянных магнитов (ПрИС-ИПМ) и алгоритмы преобразования измерительной информации. ПАолучено разложение полной, методической и инструментальной погрешностей на составляющие, что создает предпосылки для исследования зависимости значения погрешностей от различных факторов.
2.
Подробнее
Ланкин, М. В.
Метрологическое обеспечение процессорных средств испытания постоянных магнитов [Текст] / М. В. Ланкин // Известия вузов. Электромеханика. - N 3 (2004), С. 69-73. - Библиогр.: с. 73 (5 назв. )
Кл.слова (ненормированные):
магниты -- постоянные магниты -- процессорные средства -- процессорные измерители -- средства испытания -- метрологическое обеспечение
Аннотация: Рассматриваются типовые структурные схемы процессорных измерительных средств испытания постоянных магнитов (ПрИС-ИПМ) и алгоритмы преобразования измерительной информации. ПАолучено разложение полной, методической и инструментальной погрешностей на составляющие, что создает предпосылки для исследования зависимости значения погрешностей от различных факторов.
Ланкин, М. В.
Метрологическое обеспечение процессорных средств испытания постоянных магнитов [Текст] / М. В. Ланкин // Известия вузов. Электромеханика. - N 3 (2004), С. 69-73. - Библиогр.: с. 73 (5 назв. )
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
магниты -- постоянные магниты -- процессорные средства -- процессорные измерители -- средства испытания -- метрологическое обеспечение
Аннотация: Рассматриваются типовые структурные схемы процессорных измерительных средств испытания постоянных магнитов (ПрИС-ИПМ) и алгоритмы преобразования измерительной информации. ПАолучено разложение полной, методической и инструментальной погрешностей на составляющие, что создает предпосылки для исследования зависимости значения погрешностей от различных факторов.
Page 1, Results: 2