Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 1

Отмеченные записи: 0



    Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64

УДК
ББК 22.36

Рубрики: Физика

   Молекулярная физика в целом


Кл.слова (ненормированные):
туннельно-зондовые нанотехнологии -- Si-SiO2-полимеры -- микроскопия -- слоистые структуры -- электроны -- нанотехнологии -- модификация
Аннотация: Исследование процессов модификации поверхности в структуре Si-SiO2-полимера.

Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии [Текст] // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64

1.

Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии [Текст] // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64




    Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64

УДК
ББК 22.36

Рубрики: Физика

   Молекулярная физика в целом


Кл.слова (ненормированные):
туннельно-зондовые нанотехнологии -- Si-SiO2-полимеры -- микроскопия -- слоистые структуры -- электроны -- нанотехнологии -- модификация
Аннотация: Исследование процессов модификации поверхности в структуре Si-SiO2-полимера.

Page 1, Results: 1

 

All acquisitions for 2025
Or select a month
January
February
March
April
May
June
July
August
September
October
November
December