Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
621.38 Н 405 / Н 405-ЕКВ ауд.402 учебная
32.844 Н 405 / Н 405-Хранение Отдела организации и использования фонда
Неволин, В.
Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547
Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии
наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
621.38 Н 405 / Н 405-ЕКВ ауд.402 учебная
32.844 Н 405 / Н 405-Хранение Отдела организации и использования фонда
Неволин, В.
Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547
Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии
наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Гуртов, Валерий Алексеевич.
Физика твердого тела для инженеров : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина. - Москва : Техносфера, 2007. - 520 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 08.). - Библиогр. : с. 505 - 510.
Рубрики: физика твердого тела--учебные издания для вузов
физика конденсированного состояния--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
твердые тела (физика) -- кристаллография -- кристаллические решетки (физика) -- межатомные связи -- сверхпроводимость -- фазовые переходы -- равновесие фаз (физика твердого тела) -- термоэлектронная эмиссия -- автоэлектронная эмиссия -- туннельные микроскопы -- туннельная инжекция -- твердотельные полевые приборы -- дар от вузов -- университетская книга (конкурс)
Доп.точки доступа:
Осауленко, Роман Николаевич
Алешина, Л. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Гуртов, Валерий Алексеевич.
Физика твердого тела для инженеров : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина. - Москва : Техносфера, 2007. - 520 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 08.). - Библиогр. : с. 505 - 510.
| УДК |
Рубрики: физика твердого тела--учебные издания для вузов
физика конденсированного состояния--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
твердые тела (физика) -- кристаллография -- кристаллические решетки (физика) -- межатомные связи -- сверхпроводимость -- фазовые переходы -- равновесие фаз (физика твердого тела) -- термоэлектронная эмиссия -- автоэлектронная эмиссия -- туннельные микроскопы -- туннельная инжекция -- твердотельные полевые приборы -- дар от вузов -- университетская книга (конкурс)
Доп.точки доступа:
Осауленко, Роман Николаевич
Алешина, Л. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Карташев, В. А.
Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164. - Библиогр.: c. 164 (7 назв. )
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- зонды -- колебания -- система управления туннельным микроскопом -- зондовые туннельные микроскопы
Аннотация: Дается оценка зависимости амплитуды колебаний иглы от амплитуды колебаний основания для некоторых моделей туннельных микроскопов. Показано, что помимо поступательных колебаний измерительного блока, вклад которых в ошибки измерений мал, на иглу передаются колебания, связанные с его раскачиванием в упругом подвесе.
Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.
Карташев, В. А.
Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164. - Библиогр.: c. 164 (7 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- зонды -- колебания -- система управления туннельным микроскопом -- зондовые туннельные микроскопы
Аннотация: Дается оценка зависимости амплитуды колебаний иглы от амплитуды колебаний основания для некоторых моделей туннельных микроскопов. Показано, что помимо поступательных колебаний измерительного блока, вклад которых в ошибки измерений мал, на иглу передаются колебания, связанные с его раскачиванием в упругом подвесе.
Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.
Page 1, Results: 3