Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Методы астрономии : пер. с англ. / под ред. В. А. Крата. - Москва : Мир, 1967. - 536 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 532.
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрические методы -- спектрограммы -- эффект Зеемана -- магнитное поле звезды -- скорости лучевые -- фотоумножитель -- измерения поляризационные -- спектрофотометрия -- астрофизика -- звезды визуально-двойные -- астрономия -- астронометрия -- спектография -- фотометрия
Доп.точки доступа:
Крат, В. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Методы астрономии : пер. с англ. / под ред. В. А. Крата. - Москва : Мир, 1967. - 536 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 532.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрические методы -- спектрограммы -- эффект Зеемана -- магнитное поле звезды -- скорости лучевые -- фотоумножитель -- измерения поляризационные -- спектрофотометрия -- астрофизика -- звезды визуально-двойные -- астрономия -- астронометрия -- спектография -- фотометрия
Доп.точки доступа:
Крат, В. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Б 955
621.38 Б 955 / Б 955-Хранение Отдела организации и использования фонда
621.382 Б 955 / Б 955-Абонемент учебной и научной литературы (402)
621.38 Б 955 / Б 955-Абонемент учебной и научной литературы (402)
Быстров, Юрий Александрович.
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - Москва : Радио и связь, 1988. - 168 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 162-166.. - ISBN 5256000063
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- методы измерения -- оптические микроскопы -- фотоэлектрические методы измерения -- дифракционные методы измерения -- полупроводниковые пластины
Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Алексеевич
Котлецов, Борис Николаевич
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Б 955
621.38 Б 955 / Б 955-Хранение Отдела организации и использования фонда
621.382 Б 955 / Б 955-Абонемент учебной и научной литературы (402)
621.38 Б 955 / Б 955-Абонемент учебной и научной литературы (402)
Быстров, Юрий Александрович.
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - Москва : Радио и связь, 1988. - 168 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 162-166.. - ISBN 5256000063
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- методы измерения -- оптические микроскопы -- фотоэлектрические методы измерения -- дифракционные методы измерения -- полупроводниковые пластины
Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Алексеевич
Котлецов, Борис Николаевич
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
3.
Подробнее
Корндорф, С. Ф.
Фотоэлектрические измерительные устройства в машиностроении / С. Ф. Корндорф. - Москва : Машиностроение, 1965. - 193, [2] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 188-194
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрические методы -- световой поток -- линейные величины -- угловые величины -- фотоэлементы -- фотоэлектрические устройства
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Корндорф, С. Ф.
Фотоэлектрические измерительные устройства в машиностроении / С. Ф. Корндорф. - Москва : Машиностроение, 1965. - 193, [2] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 188-194
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрические методы -- световой поток -- линейные величины -- угловые величины -- фотоэлементы -- фотоэлектрические устройства
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 3