Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 2

Отмеченные записи: 0

538.9 И 495
Ильященко, Владимир Михайлович.
    Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Владивосток : [б. и.], 2007. - 110 л. с. : ил., табл. - Библиогр. : л. 100-110
На правах рукописи

УДК

Рубрики: тонкие пленки--физика--диссертации

Кл.слова (ненормированные):
нанопленки -- магнитные пленки -- нанослои (физика) -- магнитные переходные металлы -- силициды -- тонкопленочные нанофазы -- кремниевая электроника -- наноструктуры -- наногетероструктуры -- силицидообразование -- переходные металлы (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- выращивание сверхтонких нанослоев -- дифракции медленных электронов метод -- сверхтонкие нанослои -- диссертации -- физика конденсированного состояния
Доп.точки доступа:
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Ильященко, Владимир Михайлович. Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) [Текст] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления, 2007. - 110 л. с.

1.

Ильященко, Владимир Михайлович. Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) [Текст] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления, 2007. - 110 л. с.


538.9 И 495
Ильященко, Владимир Михайлович.
    Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Владивосток : [б. и.], 2007. - 110 л. с. : ил., табл. - Библиогр. : л. 100-110
На правах рукописи

УДК

Рубрики: тонкие пленки--физика--диссертации

Кл.слова (ненормированные):
нанопленки -- магнитные пленки -- нанослои (физика) -- магнитные переходные металлы -- силициды -- тонкопленочные нанофазы -- кремниевая электроника -- наноструктуры -- наногетероструктуры -- силицидообразование -- переходные металлы (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- выращивание сверхтонких нанослоев -- дифракции медленных электронов метод -- сверхтонкие нанослои -- диссертации -- физика конденсированного состояния
Доп.точки доступа:
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

538.9(075) Л 649
Лифшиц, В. Г.
    Основы физики поверхности полупроводников : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН. - Владивосток : [б. и.], 1999. - 157 с. : ил. - Библиогр. в конце лекций.

УДК

Рубрики: твердые тела--поверхностные свойства--спектроскопические исследования--учебные издания

   пленки тонкие--спектроскопические исследования--учебные издания


   физика тонких пленок--учебные издания


Кл.слова (ненормированные):
поверхность твердого тела -- оже-спектроскопия -- физика твердого тела -- полупроводники -- тонкие пленки (физика) -- поверхности кремния -- поверхностные фазы на кремнии (электрофизические свойства) -- спектроскопия электронная -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронами (ХПЭЭ) -- кремний (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- сканирующая туннельная микроскопия -- твердофазная эпитаксия металлов -- сверхрешетки -- электропроводность поверхностных фаз -- диффузия по поверхности кремния -- физика поверхности полупроводников
Доп.точки доступа:
Саранин, Александр Александрович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Лифшиц, В. Г. Основы физики поверхности полупроводников [Текст] : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН., 1999. - 157 с. с.

2.

Лифшиц, В. Г. Основы физики поверхности полупроводников [Текст] : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН., 1999. - 157 с. с.


538.9(075) Л 649
Лифшиц, В. Г.
    Основы физики поверхности полупроводников : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН. - Владивосток : [б. и.], 1999. - 157 с. : ил. - Библиогр. в конце лекций.

УДК

Рубрики: твердые тела--поверхностные свойства--спектроскопические исследования--учебные издания

   пленки тонкие--спектроскопические исследования--учебные издания


   физика тонких пленок--учебные издания


Кл.слова (ненормированные):
поверхность твердого тела -- оже-спектроскопия -- физика твердого тела -- полупроводники -- тонкие пленки (физика) -- поверхности кремния -- поверхностные фазы на кремнии (электрофизические свойства) -- спектроскопия электронная -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронами (ХПЭЭ) -- кремний (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- сканирующая туннельная микроскопия -- твердофазная эпитаксия металлов -- сверхрешетки -- электропроводность поверхностных фаз -- диффузия по поверхности кремния -- физика поверхности полупроводников
Доп.точки доступа:
Саранин, Александр Александрович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Page 1, Results: 2

 

All acquisitions for 
Or select a month