Электронный каталог


 

Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ

Page 1, Results: 5

Report on unfulfilled requests: 0

535
Г 419

Герчановская, Виктория Петровна.
    Новые профессии света / В. П. Герчановская, Э. Ф. Ипатов, А. П. Малова. - Киев : Тэхника, 1989. - 119 c. : ил. - Библиогр. : с. 116. - ISBN 5335003278

УДК

Кл.слова (ненормированные):
лазерная техника -- эллипсометры -- дихрографы -- волоконная оптика -- интегральная оптика -- оптоэлектроника -- голография -- поляризационная оптика -- жидкие кристаллы -- дефлекторы -- интерференция света -- автоколлиматоры -- лазеры
Доп.точки доступа:
Ипатов, Эвальд Федорович
Малова, Ангелина Петровна

Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)

Герчановская, Виктория Петровна. Новые профессии света [Текст] / В. П. Герчановская, Э. Ф. Ипатов, А. П. Малова, 1989. - 119 c. с.

1.

Герчановская, Виктория Петровна. Новые профессии света [Текст] / В. П. Герчановская, Э. Ф. Ипатов, А. П. Малова, 1989. - 119 c. с.


535
Г 419

Герчановская, Виктория Петровна.
    Новые профессии света / В. П. Герчановская, Э. Ф. Ипатов, А. П. Малова. - Киев : Тэхника, 1989. - 119 c. : ил. - Библиогр. : с. 116. - ISBN 5335003278

УДК

Кл.слова (ненормированные):
лазерная техника -- эллипсометры -- дихрографы -- волоконная оптика -- интегральная оптика -- оптоэлектроника -- голография -- поляризационная оптика -- жидкие кристаллы -- дефлекторы -- интерференция света -- автоколлиматоры -- лазеры
Доп.точки доступа:
Ипатов, Эвальд Федорович
Малова, Ангелина Петровна

Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)

621.383 В 177
Ванюрихин, Александр Иванович.
    Оптико-электронные поляризационные устройства / А. И. Ванюрихин, В. П. Герчановская. - Киев : Технiка, 1984. - 160 c. : табл., ил. - Библиогр. : с. 154-158

УДК

Кл.слова (ненормированные):
оптика поляризационная -- поляризация света -- модуляторы -- компенсаторы -- дефлекторы -- поляризаторы -- эллипсометры
Доп.точки доступа:
Герчановская, Виктория Петровна

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Ванюрихин, Александр Иванович. Оптико-электронные поляризационные устройства [Текст] / А. И. Ванюрихин, В. П. Герчановская, 1984. - 160 c. с.

2.

Ванюрихин, Александр Иванович. Оптико-электронные поляризационные устройства [Текст] / А. И. Ванюрихин, В. П. Герчановская, 1984. - 160 c. с.


621.383 В 177
Ванюрихин, Александр Иванович.
    Оптико-электронные поляризационные устройства / А. И. Ванюрихин, В. П. Герчановская. - Киев : Технiка, 1984. - 160 c. : табл., ил. - Библиогр. : с. 154-158

УДК

Кл.слова (ненормированные):
оптика поляризационная -- поляризация света -- модуляторы -- компенсаторы -- дефлекторы -- поляризаторы -- эллипсометры
Доп.точки доступа:
Герчановская, Виктория Петровна

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

535 С 568

    Современные проюлемы эллипсометрии / Академия наук СССР, Сибирское отделение; Институт физики полупроводников ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1980. - 192 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
применение эллипсометрии -- эллипсометры -- спектральные эллипсометры -- номограммы -- эллипсометрические расчеты -- оже-спектроскопия -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Современные проюлемы эллипсометрии [Текст] / Академия наук СССР, Сибирское отделение; Институт физики полупроводников, 1980. - 192 с. с.

3.

Современные проюлемы эллипсометрии [Текст] / Академия наук СССР, Сибирское отделение; Институт физики полупроводников, 1980. - 192 с. с.


535 С 568

    Современные проюлемы эллипсометрии / Академия наук СССР, Сибирское отделение; Институт физики полупроводников ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1980. - 192 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
применение эллипсометрии -- эллипсометры -- спектральные эллипсометры -- номограммы -- эллипсометрические расчеты -- оже-спектроскопия -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)


Симоненко, З. Г.
    Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )

УДК
ББК 32.86-5

Рубрики: Радиоэлектроника

   Квантовые приборы


Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.

Симоненко, З. Г. Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов [Текст] / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62

4.

Симоненко, З. Г. Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов [Текст] / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62



Симоненко, З. Г.
    Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )

УДК
ББК 32.86-5

Рубрики: Радиоэлектроника

   Квантовые приборы


Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.

621 К 643
Конев, Владимир Афанасьевич.
    Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Конев, Владимир Афанасьевич. Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур [Текст] / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики., 1989. - 133 с. с.

5.

Конев, Владимир Афанасьевич. Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур [Текст] / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики., 1989. - 133 с. с.


621 К 643
Конев, Владимир Афанасьевич.
    Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики

Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)

Page 1, Results: 5

 

All acquisitions for 
Or select a month