Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 4

Отмеченные записи: 0

535.243
Л 175
535 Л 175 / Л 175-Ч/З о. Русский
535.243 Л 175 / Л 175-Хранение Отдела организации и использования фонда


    Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.]. - Москва : Изд-во Московского технического университета, 2003. - 351 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 259-267. - ISBN 5703821347
Авт. указ. на обор. тит. л.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
Тихонова метод регуляризации -- газоанализаторы -- газовые смеси -- лазерный анализ -- спектроскопия -- газоанализ -- лазерный контроль
Доп.точки доступа:
Козинцев, Валентин Иванович
Белов, Михаил Леонидович
Городничев, Виктор Александрович

Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей [Текст] / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.], 2003. - 351 c. с.

1.

Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей [Текст] / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.], 2003. - 351 c. с.


535.243
Л 175
535 Л 175 / Л 175-Ч/З о. Русский
535.243 Л 175 / Л 175-Хранение Отдела организации и использования фонда


    Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.]. - Москва : Изд-во Московского технического университета, 2003. - 351 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 259-267. - ISBN 5703821347
Авт. указ. на обор. тит. л.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
Тихонова метод регуляризации -- газоанализаторы -- газовые смеси -- лазерный анализ -- спектроскопия -- газоанализ -- лазерный контроль
Доп.точки доступа:
Козинцев, Валентин Иванович
Белов, Михаил Леонидович
Городничев, Виктор Александрович

Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

535.243
О-72
535.232 О-72 / О-72-Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10)
535 О-72 / О-72-Ч/З о. Русский

Осадько, Игорь Сергеевич.
    Селективная спектроскопия одиночных молекул / И. С. Осадько. - Москва : Физматлит, 2000. - 319 c. : ил. - Библиогр. : с. 316-319. - ISBN 5922100793

УДК

Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия одиночных молекул -- селективная спектроскопия -- спектроскопия -- одиночные молекулы -- оптика -- фононы -- спектрофотометрия -- спектральная диффузия
Экземпляры всего: 2
Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)

Осадько, Игорь Сергеевич. Селективная спектроскопия одиночных молекул [Текст] / И. С. Осадько, 2000. - 319 c. с.

2.

Осадько, Игорь Сергеевич. Селективная спектроскопия одиночных молекул [Текст] / И. С. Осадько, 2000. - 319 c. с.


535.243
О-72
535.232 О-72 / О-72-Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10)
535 О-72 / О-72-Ч/З о. Русский

Осадько, Игорь Сергеевич.
    Селективная спектроскопия одиночных молекул / И. С. Осадько. - Москва : Физматлит, 2000. - 319 c. : ил. - Библиогр. : с. 316-319. - ISBN 5922100793

УДК

Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия одиночных молекул -- селективная спектроскопия -- спектроскопия -- одиночные молекулы -- оптика -- фононы -- спектрофотометрия -- спектральная диффузия
Экземпляры всего: 2
Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)

535.243 К 43
Киреев С.В.
    Лазерное детектирование изотопов йода : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В. - М. : Б.и., 2003. - 38 c.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
лазерная физика -- ядерная физика -- лазерные методы -- детектирование изотопов -- авторефераты -- НЛ
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

Киреев С.В. Лазерное детектирование изотопов йода [Текст] : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В., 2003. - 38 c. с.

3.

Киреев С.В. Лазерное детектирование изотопов йода [Текст] : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В., 2003. - 38 c. с.


535.243 К 43
Киреев С.В.
    Лазерное детектирование изотопов йода : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В. - М. : Б.и., 2003. - 38 c.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
лазерная физика -- ядерная физика -- лазерные методы -- детектирование изотопов -- авторефераты -- НЛ
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)


Левин, А. Д.
    Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42

УДК
ББК 24.1 + 22.34

Рубрики: Физика--Оптика

   Химия--Общая химия. Теоретическая химия


Кл.слова (ненормированные):
микропланшетный фотометр -- оптическая плотность -- иммуноферментный анализ -- светофильтры -- интерференционные светофильтры
Аннотация: Даны количественные оценки составляющих погрешности, обусловленных спектральными характеристиками интерференционных светофильтров, искривлением поверхности жидкости в лунке микропланшета из-за его движения и капилярных эффектов. Предложены способы выявления и минимизации этих погрешностей.

Левин, А. Д. Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами [Текст] / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42

4.

Левин, А. Д. Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами [Текст] / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42



Левин, А. Д.
    Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42

УДК
ББК 24.1 + 22.34

Рубрики: Физика--Оптика

   Химия--Общая химия. Теоретическая химия


Кл.слова (ненормированные):
микропланшетный фотометр -- оптическая плотность -- иммуноферментный анализ -- светофильтры -- интерференционные светофильтры
Аннотация: Даны количественные оценки составляющих погрешности, обусловленных спектральными характеристиками интерференционных светофильтров, искривлением поверхности жидкости в лунке микропланшета из-за его движения и капилярных эффектов. Предложены способы выявления и минимизации этих погрешностей.

Page 1, Results: 4

 

All acquisitions for 
Or select a month