Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Грудин, Борис Николаевич.
Радиооптические методы анализа изображений и случайных процессов : [учебное пособие к лабораторным работам для 3 курса АНИ] / Б. Н. Грудин, С. В. Должиков, В. В. Юдин ; [науч. ред. В. Ф. Ефименко] ; Дальневосточный государственный университет. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного университета, 1983. - 185 с. : ил. - Библиогр. : с. 181-182
Рубрики: изображения электронно-оптические--формирование--моделирование--учебные издания для вузов
микроскопия--изображения--обработка--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
изображения микроструктурные -- радиооптические методы -- электронно-микроскопические исследования -- оптика электронного микроскопа -- электронная микроскопия -- ДВГУ (труды преподавателей) -- турбулентность морской воды -- турбулентная среда, оптические методы -- тонкие пленки ферромагнитные -- оптические методы -- Гильбертова фильтрация -- электронограммы -- аппаратно-программные средства -- электронно-микроскопические изображения -- анализ изображений -- анализ электронных изображений -- спектры изображений в оптической системе, получение -- радиооптический анализ -- микроскопические изображения, анализ
Доп.точки доступа:
Должиков, Сергей Владимирович
Юдин, В. В.
Ефименко, Василий Федорович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Грудин, Борис Николаевич.
Радиооптические методы анализа изображений и случайных процессов : [учебное пособие к лабораторным работам для 3 курса АНИ] / Б. Н. Грудин, С. В. Должиков, В. В. Юдин ; [науч. ред. В. Ф. Ефименко] ; Дальневосточный государственный университет. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного университета, 1983. - 185 с. : ил. - Библиогр. : с. 181-182
| УДК |
Рубрики: изображения электронно-оптические--формирование--моделирование--учебные издания для вузов
микроскопия--изображения--обработка--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
изображения микроструктурные -- радиооптические методы -- электронно-микроскопические исследования -- оптика электронного микроскопа -- электронная микроскопия -- ДВГУ (труды преподавателей) -- турбулентность морской воды -- турбулентная среда, оптические методы -- тонкие пленки ферромагнитные -- оптические методы -- Гильбертова фильтрация -- электронограммы -- аппаратно-программные средства -- электронно-микроскопические изображения -- анализ изображений -- анализ электронных изображений -- спектры изображений в оптической системе, получение -- радиооптический анализ -- микроскопические изображения, анализ
Доп.точки доступа:
Должиков, Сергей Владимирович
Юдин, В. В.
Ефименко, Василий Федорович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Зевайль, Ахмед.
Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учебное пособие] / А. Зевайль, Дж. Томас ; пер. с англ. А. В. Сухова. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с., [24] л. ил. : ил., фотоил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785915591027
Рубрики: электронная микроскопия--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронная оптика -- изображения двумерные -- изображения трехмерные -- изображения сверхскоростные -- когерентность -- электронные микроскопы -- синхротроны -- электронное изображение -- томография электронная -- голография электронная -- кристаллография электронная -- спектроскопия -- визуализация -- картирование процессов (электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Томас, Джон
Сухов, А. В. \пер.\
Экземпляры всего: 8
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент биомедицины (4), Ч/З о. Русский (2), Ч/З литературы по биомедицине и пищевым технологиям (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент биомедицины (4), Ч/З о. Русский (2), Ч/З литературы по биомедицине и пищевым технологиям (1)
Зевайль, Ахмед.
Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учебное пособие] / А. Зевайль, Дж. Томас ; пер. с англ. А. В. Сухова. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с., [24] л. ил. : ил., фотоил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785915591027
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронная оптика -- изображения двумерные -- изображения трехмерные -- изображения сверхскоростные -- когерентность -- электронные микроскопы -- синхротроны -- электронное изображение -- томография электронная -- голография электронная -- кристаллография электронная -- спектроскопия -- визуализация -- картирование процессов (электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Томас, Джон
Сухов, А. В. \пер.\
Экземпляры всего: 8
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент биомедицины (4), Ч/З о. Русский (2), Ч/З литературы по биомедицине и пищевым технологиям (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент биомедицины (4), Ч/З о. Русский (2), Ч/З литературы по биомедицине и пищевым технологиям (1)
Page 1, Results: 3