Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 11
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
В 24
Введение в физику поверхности / К. Оура, В. Г. Лифшиц, А. А. Саранин [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Москва : Наука, 2006. - 490 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 464-481. - Парал. тит. л. на англ. яз. - ISBN 5020343552
Рубрики: твердые тела--поверхностные слои--монографии
Кл.слова (ненормированные):
математическая кристаллография -- двумерная кристаллография -- Браве решетки -- Миллера индексы -- Вуда запись -- Бриллюэна зона -- кристаллические решетки -- поверхности кристаллов -- электронная спектроскопия (физика поверхности) -- зондирование ионами (физика поверхности) -- микроскопия (физика поверхности) -- дефекты поверхности -- атомная структура поверхности -- поверхностные явления -- рост тонких пленок -- наноструктуры -- структура молекулярных систем -- дифракция электронов -- физика поверхности -- фуллерены -- нанотрубки углеродные -- техника сверхвысокого вакуума -- анализ поверхности, методы
Доп.точки доступа:
Оура, Кендзиро
Лифшиц, Виктор Григорьевич
Саранин, Александр Александрович
Сергиенко, В. И. \ред.\
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 5
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2), Абонемент о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
В 24
Введение в физику поверхности / К. Оура, В. Г. Лифшиц, А. А. Саранин [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Москва : Наука, 2006. - 490 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 464-481. - Парал. тит. л. на англ. яз. - ISBN 5020343552
| УДК |
Рубрики: твердые тела--поверхностные слои--монографии
Кл.слова (ненормированные):
математическая кристаллография -- двумерная кристаллография -- Браве решетки -- Миллера индексы -- Вуда запись -- Бриллюэна зона -- кристаллические решетки -- поверхности кристаллов -- электронная спектроскопия (физика поверхности) -- зондирование ионами (физика поверхности) -- микроскопия (физика поверхности) -- дефекты поверхности -- атомная структура поверхности -- поверхностные явления -- рост тонких пленок -- наноструктуры -- структура молекулярных систем -- дифракция электронов -- физика поверхности -- фуллерены -- нанотрубки углеродные -- техника сверхвысокого вакуума -- анализ поверхности, методы
Доп.точки доступа:
Оура, Кендзиро
Лифшиц, Виктор Григорьевич
Саранин, Александр Александрович
Сергиенко, В. И. \ред.\
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 5
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2), Абонемент о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
2.
Подробнее
Дэвисон, С.
Поверхностные (таммовские) состояния / С. Дэвисон, Дж. Левин ; под ред. Д. А. Киржниц ; пер. с англ. А. Я. Беленького. - Москва : Мир, 1973. - 232 c.
Кл.слова (ненормированные):
Матье, задача -- поверхностные состояния -- метод кристаллических орбиталей -- электроны -- экспериментальные методы -- кристаллические орбитали -- линейные дефекты -- кристалл -- эксперимент (физика) -- ненасыщенные связи -- методы резольвенты
Доп.точки доступа:
Левин, Дж.
Киржниц, Д. А. \ред.\
Беленький, А. Я. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Дэвисон, С.
Поверхностные (таммовские) состояния / С. Дэвисон, Дж. Левин ; под ред. Д. А. Киржниц ; пер. с англ. А. Я. Беленького. - Москва : Мир, 1973. - 232 c.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Матье, задача -- поверхностные состояния -- метод кристаллических орбиталей -- электроны -- экспериментальные методы -- кристаллические орбитали -- линейные дефекты -- кристалл -- эксперимент (физика) -- ненасыщенные связи -- методы резольвенты
Доп.точки доступа:
Левин, Дж.
Киржниц, Д. А. \ред.\
Беленький, А. Я. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Всесоюзная школа-семинар (IV) по физике поверхности полупроводников. Материалы : Сб. ст. / Под ред. Коноров П.П.; Ленингр.ун-т. - Л. : Изд-во Ленинградского университета, 1979. - 296 c.
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрохимия -- поверхностные состояния -- межфазовые границы -- рекомбинация -- квантовые эффекты -- фотоэффект -- полупроводники -- экситоны -- ионные процессы
Доп.точки доступа:
Коноров П.П. \ред.\
Ленинградский государственный университет
Свободных экз. нет
Всесоюзная школа-семинар (IV) по физике поверхности полупроводников. Материалы : Сб. ст. / Под ред. Коноров П.П.; Ленингр.ун-т. - Л. : Изд-во Ленинградского университета, 1979. - 296 c.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектрохимия -- поверхностные состояния -- межфазовые границы -- рекомбинация -- квантовые эффекты -- фотоэффект -- полупроводники -- экситоны -- ионные процессы
Доп.точки доступа:
Коноров П.П. \ред.\
Ленинградский государственный университет
Свободных экз. нет
4.
Подробнее
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; под ред. И. С. Ковалева ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1985. - 104 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 99-102.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия радиоволновая -- применение эллипсометрии -- радиоволновый эллипсометр -- диэлектрики -- устройства измерения эллиптичности -- деполяризующие свойства пленок -- свойства тонких пленок
Доп.точки доступа:
Кулешов, Евгений Митрофанович
Пунько, Николай Николаевич
Ковалев, И. С. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; под ред. И. С. Ковалева ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1985. - 104 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 99-102.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия радиоволновая -- применение эллипсометрии -- радиоволновый эллипсометр -- диэлектрики -- устройства измерения эллиптичности -- деполяризующие свойства пленок -- свойства тонких пленок
Доп.точки доступа:
Кулешов, Евгений Митрофанович
Пунько, Николай Николаевич
Ковалев, И. С. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
5.
Подробнее
М 641
Миронов, Виктор Леонидович.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для старших курсов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур (Нижний Новгород). - Москва : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 02). - Библиогр. : с. 140-143. - ISBN 5948360342
Рубрики: нанотехнологии (молекулярная физика)--учебник для вузов
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующие зондовые микроскопы -- туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- электросиловая микроскопия -- магнитно-силовая микроскопия -- сканеры (молекулярная физика)
Доп.точки доступа:
Институт физики микроструктур (Нижний Новгород)
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
М 641
Миронов, Виктор Леонидович.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для старших курсов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур (Нижний Новгород). - Москва : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники ; II, 02). - Библиогр. : с. 140-143. - ISBN 5948360342
| УДК |
Рубрики: нанотехнологии (молекулярная физика)--учебник для вузов
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующие зондовые микроскопы -- туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- электросиловая микроскопия -- магнитно-силовая микроскопия -- сканеры (молекулярная физика)
Доп.точки доступа:
Институт физики микроструктур (Нижний Новгород)
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
6.
Подробнее
Л 649
Лифшиц, Виктор Григорьевич.
Спектры ХПЭЭ поверхностных фаз на кремнии = EELS spectra of surface phases on silicon : [монография] / В.Г. Лифшиц, Ю.В. Луняков; Ин-т автоматики и поцессов упр. ДВО РАН. - Владивосток : Дальнаука, 2004. - 315 с. - Библиогр.: с. 311-312. - ISBN 5804404547
Доп.точки доступа:
Луняков, Юрий Виловьевич \автор.\
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Свободных экз. нет
Л 649
Лифшиц, Виктор Григорьевич.
Спектры ХПЭЭ поверхностных фаз на кремнии = EELS spectra of surface phases on silicon : [монография] / В.Г. Лифшиц, Ю.В. Луняков; Ин-т автоматики и поцессов упр. ДВО РАН. - Владивосток : Дальнаука, 2004. - 315 с. - Библиогр.: с. 311-312. - ISBN 5804404547
| УДК |
Луняков, Юрий Виловьевич \автор.\
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Свободных экз. нет
7.
Подробнее
Никитенков, Николай Николаевич.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для бакалавриата и магистратуры по техническим направлениям и специальностям / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет. - Москва : Юрайт, 2016. - 202 с. : ил., табл., схем. - (Университеты России). - ISBN 9785991665285
Рубрики: твердые тела--поверхностные явления--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
структура поверхности -- диагностика поверхности -- электронная эмиссия -- ионная эмиссия -- ионного распыления теория -- спектроскопия поверхности -- дифракция -- поверхности твердых тел -- тонкие пленки -- масс-анализаторы -- электронные пушки -- ионные пушки -- детекторы частиц -- энергоанализаторы
Доп.точки доступа:
Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), ЕКВ ауд.402 учебная (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), ЕКВ ауд.402 учебная (1), Ч/З о. Русский (1)
Никитенков, Николай Николаевич.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для бакалавриата и магистратуры по техническим направлениям и специальностям / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет. - Москва : Юрайт, 2016. - 202 с. : ил., табл., схем. - (Университеты России). - ISBN 9785991665285
| УДК |
Рубрики: твердые тела--поверхностные явления--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
структура поверхности -- диагностика поверхности -- электронная эмиссия -- ионная эмиссия -- ионного распыления теория -- спектроскопия поверхности -- дифракция -- поверхности твердых тел -- тонкие пленки -- масс-анализаторы -- электронные пушки -- ионные пушки -- детекторы частиц -- энергоанализаторы
Доп.точки доступа:
Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), ЕКВ ауд.402 учебная (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), ЕКВ ауд.402 учебная (1), Ч/З о. Русский (1)
8.
Подробнее
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 4 (2005), С. 22-29
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- геометрия фракталов -- фрактальные характеристики материалов -- фракталы
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов. Рассмотрены характеристики материалов, которые могут быть описаны в рамках геометрии фракталов. Приведены результаты теоретического и экспериментального исследований фрактальных характеристик различных материалов.
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 4 (2005), С. 22-29
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- геометрия фракталов -- фрактальные характеристики материалов -- фракталы
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов. Рассмотрены характеристики материалов, которые могут быть описаны в рамках геометрии фракталов. Приведены результаты теоретического и экспериментального исследований фрактальных характеристик различных материалов.
9.
Подробнее
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 5 (2005), С. 19-26
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- фракталы -- геометрия фракталов -- фрактальность зерен -- фрактальные поверхности -- фрактальные пленки -- кластеры
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов.
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 5 (2005), С. 19-26
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- фракталы -- геометрия фракталов -- фрактальность зерен -- фрактальные поверхности -- фрактальные пленки -- кластеры
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов.
10.
Подробнее
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 7 (2005), С. 35-41
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- фракталы -- фрактальная геометрия -- коллоидные частицы -- модель Вейбулла -- Вейбулла модель
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов.
Ролдугин, В. И.
Фрактальные структуры в материаловедении / В. И. Ролдугин // Материаловедение. - N 7 (2005), С. 35-41
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фрактальные структуры -- теория фракталов -- фракталы -- фрактальная геометрия -- коллоидные частицы -- модель Вейбулла -- Вейбулла модель
Аннотация: Изложены основные понятия теории фракталов и основные подходы к определению фрактальных размерностей физико-химических объектов.
Page 1, Results: 11