Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 c. : ил. - Библиогр. : с. 127-135.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковые материалы -- электронно-зондовые методы -- рентгеноспектральный микроанализ -- техника эксперимента микроанализа
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Конников, Самуил Гиршевич.
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов / С. Г. Конников, А. Ф. Сидоров. - Москва : Энергия, 1978. - 136 c. : ил. - Библиогр. : с. 127-135.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковые материалы -- электронно-зондовые методы -- рентгеноспектральный микроанализ -- техника эксперимента микроанализа
Доп.точки доступа:
Сидоров, Александр Федорович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
| УДК |
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияние на параметры твердотельных приборов : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1984. - 110 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
гетероэпитаксиальные слои -- полупроводники -- дефекты МДП-структуры -- твердотельные приборы -- микроэлектронные системы
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияние на параметры твердотельных приборов : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники ; [ред. кол. : С. К. Максимов (гл. ред.) и др.]. - Москва : [б. и.], 1984. - 110 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце ст.
Ред. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
гетероэпитаксиальные слои -- полупроводники -- дефекты МДП-структуры -- твердотельные приборы -- микроэлектронные системы
Доп.точки доступа:
Максимов, С. К. \ред.\
Московский институт электронной техники
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 1, Results: 3