Electronic catalog

el cat en


 

База данных: Electronic catalog FEFU

Page 1, Results: 2

Отмеченные записи: 0

621.315 П 64

   Потапов, Ю. В

    Методы измерения параметров полупроводников : курс лекций / Ю. В. Потапов ; под ред. С. С. Горелика ; Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - Москва : [б. и.], 1973 - .
   ч. 3 : Неравновесные процессы / Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - 128 с. : ил., схем. - Библиогр. : с. 125.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
метод Шпитцера -- неравновесные носители заряда -- метод фотоответа -- метод Хейнса и Шокли -- импульсное поле
Доп.точки доступа:
Горелик, Семен Самуилович \ед.\
Московский институт стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Потапов, Ю. В Методы измерения параметров полупроводников [Текст] : курс лекций. ч. 3 : Неравновесные процессы, 1973. - 128 с. с.

1.

Потапов, Ю. В Методы измерения параметров полупроводников [Текст] : курс лекций. ч. 3 : Неравновесные процессы, 1973. - 128 с. с.


621.315 П 64

   Потапов, Ю. В

    Методы измерения параметров полупроводников : курс лекций / Ю. В. Потапов ; под ред. С. С. Горелика ; Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - Москва : [б. и.], 1973 - .
   ч. 3 : Неравновесные процессы / Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - 128 с. : ил., схем. - Библиогр. : с. 125.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
метод Шпитцера -- неравновесные носители заряда -- метод фотоответа -- метод Хейнса и Шокли -- импульсное поле
Доп.точки доступа:
Горелик, Семен Самуилович \ед.\
Московский институт стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

621.315 П 121
Павлов, Лев Павлович.
    Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов : учебное пособие для вузов / Л. П. Павлов. - Москва : Высшая школа, 1975. - 206 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 201
Прил. : с. 202-205

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- полупроводники -- параметры полупроводников -- Холла эффект -- фотопроводимость -- поверхностная проводимость -- фотомагнитоэлектрический эффект
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)

Павлов, Лев Павлович. Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов [Текст] : учебное пособие для вузов / Л. П. Павлов, 1975. - 206 с. с.

2.

Павлов, Лев Павлович. Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов [Текст] : учебное пособие для вузов / Л. П. Павлов, 1975. - 206 с. с.


621.315 П 121
Павлов, Лев Павлович.
    Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов : учебное пособие для вузов / Л. П. Павлов. - Москва : Высшая школа, 1975. - 206 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 201
Прил. : с. 202-205

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- полупроводники -- параметры полупроводников -- Холла эффект -- фотопроводимость -- поверхностная проводимость -- фотомагнитоэлектрический эффект
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)

Page 1, Results: 2

 

All acquisitions for 
Or select a month