Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии/Величко, А.А.

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии/Величко, А.А.

https://library.dvfu.ru/en/lib/document/EBSZnanium/F496D481-BF3C-4D41-882D-A64B1DA716DE/

535
Величко, А. А.
    Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии [Текст] : Учебно-методическая литература / А.А. Величко. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет (НГТУ), 2012. - 28 с. . - ISBN 978-5-7782-1924-3

УДК

535

ББК 3285

Рубрики: Радиоэлектроника. Автоматика. Связь


Доп.точки доступа:
Кольцов, Б.Б.

QR code of document