Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор)/Лаврентьев, Ю. Г.; Институт геологии и минералогии СО РАН, г. Новосибирск

 

QR code of document

Ratings: 0


Лаврентьев, Ю. Г.; Институт геологии и минералогии СО РАН, г. Новосибирск
    Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор) / Ю. Г. Лаврентьев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - Т. 75, N 8 (2009), С. 4-10. - Библиогр.: с. 10 (26 назв. )

УДК
543.4/.5+004.94
ББК 24.46/48 + 32.973-018.2

Рубрики: Химия

   Физико-химические методы анализа

   Вычислительная техника

   Имитационное компьютерное моделирование

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный микроанализ -- микроанализ -- минералы -- электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ -- методы коррекции -- электронно-зондовые приборы -- phi-rho-z-моделирование -- микроанализаторы -- метод ZAF -- ZAF метод -- сильноточный рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Рассмотрены основные тенденции развития рентгеноспектрального микроанализа минералов.

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Similar publications by classification

Фотометрическое определение меди (II) с хромазуролом S и катионным поверхностно-активным веществом в присутствии сильных электролитов/Сумина, Е. Г.
Система моделирования масс-спектрометра на основе параллельного кода частиц в ячейке/Позднеев, А. В.
Теоретические основы технологии продуктов с конденсационно-кристаллизационной дисперсной структурой и связанные с ней проблемы промышленной экологии и энергосбережения производства (механизм твердения цементного камня)/Кувшинников, И. М.
Синтез и исследование гексамолибденоцинкатов с неорганическими катионами/Орешкина, А. В.
Фотометрическое и комплексометрическое определение бериллия (II) в сплавах и сточных водах/Козлова, Л. М