Прямые методы исследования дефектов в кристаллах

 

QR code of document

Ratings: 0

539 П 858

    Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.]. - Москва : Мир, 1965. - 351 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.

УДК
539

Кл.слова (ненормированные):
дефекты в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- дифракционный контраст -- рентгеновские лучи -- топограмма прямого пучка -- происхождение рентгеновских лучей
Доп.точки доступа:
Ефимов, О. Н. \пер.\
Звинчук, Р. А. \пер.\
Сорокин, Л. М. \пер.\

Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг