Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

 

QR code of document

Ratings: 0

535 А 64

    Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха ; пер. с англ. : [А. М. Гофман и др.]. - Москва : Мир, 1987. - 598 c. : ил. - Библиогр. в конце гл.

УДК
535.33

Кл.слова (ненормированные):
оже-спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- сегрегация -- коррозия -- гетерогенный катализ -- кристаллические решетки -- рентгеновская спектроскопия -- спектроскопия -- интерпретация спектров
Доп.точки доступа:
Бриггс, Д. \ред.\
Сих, М. П. \ред.\
Гофман, А. М. \пер.\

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг