Skip to content
QR code of document
621.382 Н 172
Надежность полупроводниковых устройств : пер. с англ. - Москва : Изд-во Иностранной литературы, 1963. - 426 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце гл. - Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК | 621.382.019.3 |
Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура (РЭА) -- устройства полупроводниковые -- транзисторы электрохимические -- транзисторы германиевые сплавные -- транзисторы низкочастотные -- диоды -- транзисторы кремниевые
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)