Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов

 

QR code of document

Ratings: 0

621.382 П 429

    Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57

УДК
621.382.019.3

Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг