Skip to content
QR code of document
621.38 Н 172
Надежность электронных элементов и систем / под ред. Х. Шнайдера ; пер. с нем. Б. Н. Абрамова [и др.]. - Москва : Мир, 1977. - 258 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце гл. - Парал. тит. л. на нем. яз.
| УДК | 621.38.019.3 |
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- транзисторы -- резисторы -- конденсаторы -- фильтры магнитомеханические -- неразрушающие методы контроля -- радиоэлектроника
Доп.точки доступа:
Шнайдер, Х. \ред.\
Абрамов, Б. Н. \пер.\
Экземпляры всего: 3
Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)