Исследование электронной структуры поливинилсилоксана (CH2CHSiO1,5)n методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и квантово-химического моделирования в приближении ТФП

Исследование электронной структуры поливинилсилоксана (CH2CHSiO1,5)n методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и квантово-химического моделирования в приближении ТФП

    Исследование электронной структуры поливинилсилоксана (CH2CHSiO1,5)n методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и квантово-химического моделирования в приближении ТФП [Электронный ресурс] / В. И. Вовна, И. С. Осьмушко, В. В. Короченцев, Н. П. Шапкин, М. В. Тутов. // Журнал структурной химии. - 2010. - Т. 51, № 5. - С. 910-915

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННАЯ СТРУКТУРА -- СПЕКТРОСКОПИЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ -- КВАНТОВО-ХИМИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
Доп.точки доступа:
Осьмушко, Иван Сергеевич
Короченцев, Владимир Владимирович
Шапкин, Николай Павлович
Тутов, Михаил Викторович