Skip to content
Choice of metadata Электронный каталог ДВФУ
Page 1, Results: 8
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Неволин, В.
Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547
Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии
наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
Абонемент 402 (1), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент 402 (1), Книгохранение (1)
Неволин, В.
Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547
Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии
наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
Абонемент 402 (1), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент 402 (1), Книгохранение (1)
2.
Подробнее
Дьячков, Павел Николаевич.
Углеродные нанотрубки : строение, свойства, применения [Электронный ресурс] / П. Н. Дьячков. - Электроные текстовые данные. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006. - 293 с. : ил., табл. + + 1 CD-ROM. - (Нанотехнология). - Библиогр. : с. 268-285. - Сер. указ. на обл. и обор. тит. л.. - ISBN 5947743418
ББК 30.36
Рубрики: наноматериалы--углеродные нанотрубки--структура--физико-химические свойства
нанотрубки углеродные--структура--физико-химические свойства--применение
Кл.слова (ненормированные):
углеродные нанотрубки -- фуллерены -- изготовление нанотрубок -- наноэлектроника (применение нанотрубок) -- электрические свойства углеродных нанотрубок -- транзисторы полевые -- магнитные свойства углеродных нанотрубок -- сверхпроводимость углеродных нанотрубок -- транзисторы на углеродных нанотрубках -- светоизлучающие нанотрубки -- светодиоды -- компьютерная память на нанотрубках -- атомно-силовые микроскопы (применение нанотрубок) -- нанофильтры для очистки воды -- сорбенты (применение нанотрубок) -- квантовая химия углеродных нанотрубок -- нанотрубки полупроводниковые -- электронная структура углеродных нанотрубок -- оптические диски -- нанотехнологии
Экземпляры всего: 3
Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (2)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (2)
Дьячков, Павел Николаевич.
Углеродные нанотрубки : строение, свойства, применения [Электронный ресурс] / П. Н. Дьячков. - Электроные текстовые данные. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006. - 293 с. : ил., табл. + + 1 CD-ROM. - (Нанотехнология). - Библиогр. : с. 268-285. - Сер. указ. на обл. и обор. тит. л.. - ISBN 5947743418
| УДК |
Рубрики: наноматериалы--углеродные нанотрубки--структура--физико-химические свойства
нанотрубки углеродные--структура--физико-химические свойства--применение
Кл.слова (ненормированные):
углеродные нанотрубки -- фуллерены -- изготовление нанотрубок -- наноэлектроника (применение нанотрубок) -- электрические свойства углеродных нанотрубок -- транзисторы полевые -- магнитные свойства углеродных нанотрубок -- сверхпроводимость углеродных нанотрубок -- транзисторы на углеродных нанотрубках -- светоизлучающие нанотрубки -- светодиоды -- компьютерная память на нанотрубках -- атомно-силовые микроскопы (применение нанотрубок) -- нанофильтры для очистки воды -- сорбенты (применение нанотрубок) -- квантовая химия углеродных нанотрубок -- нанотрубки полупроводниковые -- электронная структура углеродных нанотрубок -- оптические диски -- нанотехнологии
Экземпляры всего: 3
Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (2)
Свободны: Книгохранение (1), Абонемент учебной и научной литературы (2)
3.
Подробнее
Тодуа, П.
Нанометрология - основа устойчивого развития нанотехнологий [Текст] / П. Тодуа, В. Гавриленко. // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 5.
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- спектроскопическая эллипсометрия -- стандартизация в нанотехнологиях
Доп.точки доступа:
Гавриленко, В.
Тодуа, П.
Нанометрология - основа устойчивого развития нанотехнологий [Текст] / П. Тодуа, В. Гавриленко. // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 5.
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- спектроскопическая эллипсометрия -- стандартизация в нанотехнологиях
Доп.точки доступа:
Гавриленко, В.
4.
Подробнее
Новиков, Ю. А.
Прямое измерение ширины линий на атомно-силовом микроскопе / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 5 (2008), С. 10-12
ББК 30.3 + 22.338 + 22.37
Рубрики: Техника
Материаловедение
Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- ширина линии -- сигналы -- производные сигналов -- атомно-силовая микроскопия -- нанотехнологии
Аннотация: Представлен метод прямого измерения ширины линии на атомно-силовом микроскопе с использованием первой производной сигнала.
Доп.точки доступа:
Раков, А. В.
Тодуа, П. А.
Новиков, Ю. А.
Прямое измерение ширины линий на атомно-силовом микроскопе / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 5 (2008), С. 10-12
| УДК |
Рубрики: Техника
Материаловедение
Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- ширина линии -- сигналы -- производные сигналов -- атомно-силовая микроскопия -- нанотехнологии
Аннотация: Представлен метод прямого измерения ширины линии на атомно-силовом микроскопе с использованием первой производной сигнала.
Доп.точки доступа:
Раков, А. В.
Тодуа, П. А.
5.
Подробнее
Раков, А. В.
Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 6 (2008), С. 12-14
ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- сканирование -- серийные микроскопы -- измерения -- линейность сканирования -- методы измерения линейности сканирования -- атомно-силовая микроскопия -- измерительные атомно-силовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Представлен метод измерения линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе, основанный на использовании первой производной его сигнала.
Доп.точки доступа:
Новиков, Ю. А.
Тодуа, П. А.
Раков, А. В.
Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - N 6 (2008), С. 12-14
| УДК |
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- сканирование -- серийные микроскопы -- измерения -- линейность сканирования -- методы измерения линейности сканирования -- атомно-силовая микроскопия -- измерительные атомно-силовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Представлен метод измерения линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе, основанный на использовании первой производной его сигнала.
Доп.точки доступа:
Новиков, Ю. А.
Тодуа, П. А.
6.
Подробнее
Мельников, М. Ю.
Создание наноструктур в гетеропереходе с глубоким залеганием двумерного электронного газа методом высоковольтной анодно-окислительной литографии с использованием атомно-силового микроскопа / М. Ю. Мельников, В. С. Храпай, D. Schuh // Приборы и техника эксперимента. - N 4 (2008), С. 137-144. - Библиогр.: с. 143-144 (33 назв. )
ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- анодное оксидирование -- наноструктуры -- гетеропереходы -- гетероструктуры -- эффект Холла -- Холла эффект
Аннотация: Описана методика высоковольтного локального анодного оксидирования поверхности гетероструктур на основе Ga[Al]As с использованием атомно-силового микроскопа.
Доп.точки доступа:
Храпай, В. С.
Schuh, D.
Мельников, М. Ю.
Создание наноструктур в гетеропереходе с глубоким залеганием двумерного электронного газа методом высоковольтной анодно-окислительной литографии с использованием атомно-силового микроскопа / М. Ю. Мельников, В. С. Храпай, D. Schuh // Приборы и техника эксперимента. - N 4 (2008), С. 137-144. - Библиогр.: с. 143-144 (33 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- анодное оксидирование -- наноструктуры -- гетеропереходы -- гетероструктуры -- эффект Холла -- Холла эффект
Аннотация: Описана методика высоковольтного локального анодного оксидирования поверхности гетероструктур на основе Ga[Al]As с использованием атомно-силового микроскопа.
Доп.точки доступа:
Храпай, В. С.
Schuh, D.
7.
Подробнее
Родионов, Б. Н. (д-р техн. наук).
Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий / Б. Н. Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии XXI века. - N 8 (2008), С. 46-47. - Библиогр.: с. 47 (4 назв. )
ББК 22.342
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
оптика -- микроскопы -- нанотехнологии -- атомно-силовые микроскопы -- нанотрубки -- принцип действия микроскопов
Аннотация: Рассматривается принцип действия, основные характеристики и особенности использования атомных силовых микроскопов.
Родионов, Б. Н. (д-р техн. наук).
Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий / Б. Н. Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии XXI века. - N 8 (2008), С. 46-47. - Библиогр.: с. 47 (4 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
оптика -- микроскопы -- нанотехнологии -- атомно-силовые микроскопы -- нанотрубки -- принцип действия микроскопов
Аннотация: Рассматривается принцип действия, основные характеристики и особенности использования атомных силовых микроскопов.
8.
Подробнее
Петров, А. Б.
Исследование упругой силы и поверхностного затухания в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа / А. Б. Петров // Метрология. - N 4 (2009), С. 25-34. - Библиогр.: с. 34 (19 назв. )
ББК 30.10 + 22.3
Рубрики: Техника
Метрология
Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- контактный режим -- полуконтактный режим -- бесконтактный режим -- кантилеверы -- поверхность -- упругие силы -- затухание колебаний
Аннотация: Режимы работы атомно-силового микроскопа и методика исследования свойств поверхности полимеров.
Петров, А. Б.
Исследование упругой силы и поверхностного затухания в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа / А. Б. Петров // Метрология. - N 4 (2009), С. 25-34. - Библиогр.: с. 34 (19 назв. )
| УДК |
Рубрики: Техника
Метрология
Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- контактный режим -- полуконтактный режим -- бесконтактный режим -- кантилеверы -- поверхность -- упругие силы -- затухание колебаний
Аннотация: Режимы работы атомно-силового микроскопа и методика исследования свойств поверхности полимеров.
Page 1, Results: 8