Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 1, Results: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; [под общ. ред. М. М. Криштала]. - Москва : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 15). - ISBN 9785948362007
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия сканирующая--учебные издания для вузов
рентгеноспектральный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- рентгеноспектральный микроанализ -- материаловедение -- дефектоскопия -- электронная оптика -- электронно-вакуумные приборы -- микроскопы электронные -- дефекты материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- фрактография -- конструкционные материалы -- идентификация материалов -- автограф автора -- спектрометры -- рентгеновские излучения -- электроискровое легирование -- растровые изображения
Доп.точки доступа:
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Криштал, Михаил Михайлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Грешников, Василий Андреевич.
Акустическая эмиссия. Применение для испытаний метериалов и изделий / В. А. Грешников, Ю. Б. Дробот. - Москва : Издательство стандартов, 1976. - 272 с. : ил. - Библиогр. : с. 254-270
Кл.слова (ненормированные):
диагностика сооружений -- диагностика конструкций -- эмиссия акустическая -- испытание материалов -- дефекты материалов -- механические испытания материалов -- методы неразрушающих испытаний -- источники акустической эмиссии -- акустические волны -- деформации материалов
Доп.точки доступа:
Дробот, Юрий Борисович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Грешников, Василий Андреевич.
Акустическая эмиссия. Применение для испытаний метериалов и изделий / В. А. Грешников, Ю. Б. Дробот. - Москва : Издательство стандартов, 1976. - 272 с. : ил. - Библиогр. : с. 254-270
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
диагностика сооружений -- диагностика конструкций -- эмиссия акустическая -- испытание материалов -- дефекты материалов -- механические испытания материалов -- методы неразрушающих испытаний -- источники акустической эмиссии -- акустические волны -- деформации материалов
Доп.точки доступа:
Дробот, Юрий Борисович
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Дефектоскопия [Электронный ресурс] / Академия наук СССР
; гл. ред. М. Н. Михеев. - Свердловск : Наука. - В настоящее время
журнал издается. Учредители : Российская академия наук, Уральское
отделение РАН ; гл. ред. В. Е. Щербинин. - Выходит ежемесячно. -
ISSN 0130-3082
Рубрики:
дефектоскопия
Кл.слова (ненормированные): испытания материалов -- дефекты материалов -- методы испытания материалов -- радиационные методы -- магнитные методы -- электромагнитные методы -- акустические методы -- дефектометрия
Зарегистрированы поступления:
1980 1981 1982 1987 1988 1989 1990 1991 1992 1993
| Шифр: vtls000661548 (Журнал) |
Рубрики:
дефектоскопия
Кл.слова (ненормированные): испытания материалов -- дефекты материалов -- методы испытания материалов -- радиационные методы -- магнитные методы -- электромагнитные методы -- акустические методы -- дефектометрия
Зарегистрированы поступления:
1980 1981 1982 1987 1988 1989 1990 1991 1992 1993
Page 1, Results: 3