Skip to content 
el cat en
База данных: Electronic catalog FEFU
Page 2, Results: 19
Отмеченные записи: 0
11.
Подробнее
Формирование диэлектрических микроволноводов в системе полимер/SiO[2]/Si с использованием ионного облучения / А. В. Леонтьев [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - N 3 (2005), С. 79-84
ББК 24.7
Рубрики: Химия--Химия полимеров
Кл.слова (ненормированные):
микроволноводы -- диэлектрические микроволноводы -- ионное облучение -- спектральная эллипсометрия -- бинарная модуляция
Аннотация: Исследовано влияние ионной имплантации на оптические свойства пленок ПММА. Рассмотрены физические аспекты оптимизации процесса формирования диэлектрических микроволноводов на основе системы полимер/SiO[2]/Si при ионном облучении.
Доп.точки доступа:
Леонтьев, А. В.
Ковалев, В. И.
Комаров, Ф. Ф.
Хомич, А. В.
Формирование диэлектрических микроволноводов в системе полимер/SiO[2]/Si с использованием ионного облучения / А. В. Леонтьев [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - N 3 (2005), С. 79-84
| УДК |
Рубрики: Химия--Химия полимеров
Кл.слова (ненормированные):
микроволноводы -- диэлектрические микроволноводы -- ионное облучение -- спектральная эллипсометрия -- бинарная модуляция
Аннотация: Исследовано влияние ионной имплантации на оптические свойства пленок ПММА. Рассмотрены физические аспекты оптимизации процесса формирования диэлектрических микроволноводов на основе системы полимер/SiO[2]/Si при ионном облучении.
Доп.точки доступа:
Леонтьев, А. В.
Ковалев, В. И.
Комаров, Ф. Ф.
Хомич, А. В.
12.
Подробнее
Тодуа, П.
Нанометрология - основа устойчивого развития нанотехнологий [Текст] / П. Тодуа, В. Гавриленко. // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 5.
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- спектроскопическая эллипсометрия -- стандартизация в нанотехнологиях
Доп.точки доступа:
Гавриленко, В.
Тодуа, П.
Нанометрология - основа устойчивого развития нанотехнологий [Текст] / П. Тодуа, В. Гавриленко. // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ЗАО «Риц Техносфера»,. - 2013. - № 5.
Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- электронные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- спектроскопическая эллипсометрия -- стандартизация в нанотехнологиях
Доп.точки доступа:
Гавриленко, В.
13.
Подробнее
Комраков, Борис Михайлович.
Измерение параметров оптических покрытий / Б. М. Комраков, Б. А. Шапочкин. - Москва : Машиностроение, 1986. - 132 с. : табл., ил. - (Библиотека приборостроителя). - Библиогр. : с. 128-130
Кл.слова (ненормированные):
покрытия оптические -- показатели преломления -- дисперсия -- интерферометрия -- рефрактометрия -- эллипсометрия -- оптоэлектроника
Доп.точки доступа:
Шапочкин, Борис Алексеевич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Комраков, Борис Михайлович.
Измерение параметров оптических покрытий / Б. М. Комраков, Б. А. Шапочкин. - Москва : Машиностроение, 1986. - 132 с. : табл., ил. - (Библиотека приборостроителя). - Библиогр. : с. 128-130
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
покрытия оптические -- показатели преломления -- дисперсия -- интерферометрия -- рефрактометрия -- эллипсометрия -- оптоэлектроника
Доп.точки доступа:
Шапочкин, Борис Алексеевич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
14.
Подробнее
Поликристаллические полупроводники. Физические свойства и применения / [А. Бурре, Х. Меллер, Х. Зингер и др.] ; под ред. Г. Харбеке ; пер. с англ. Е. А. Андрюшина, В. А. Исаакяна. - Москва : Мир, 1989. - 341 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5030012117
Парал. тит. л. на анг. яз.
Кл.слова (ненормированные):
поликристаллические полупроводники -- поликристаллические материалы -- физика межзеренных границ -- поликристаллический кремний -- поликристаллические пленки -- термоэлектронная эмиссия -- эллипсометрия -- оптическое поглощение -- электропроводность
Доп.точки доступа:
Бурре, А.
Меллер, Х.
Зингер, Х.
Харбеке, Гюнтер \ред.\
Андрюшин, Е. А. \пер.\
Исаакян, В. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Поликристаллические полупроводники. Физические свойства и применения / [А. Бурре, Х. Меллер, Х. Зингер и др.] ; под ред. Г. Харбеке ; пер. с англ. Е. А. Андрюшина, В. А. Исаакяна. - Москва : Мир, 1989. - 341 с. : табл., ил. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5030012117
Парал. тит. л. на анг. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
поликристаллические полупроводники -- поликристаллические материалы -- физика межзеренных границ -- поликристаллический кремний -- поликристаллические пленки -- термоэлектронная эмиссия -- эллипсометрия -- оптическое поглощение -- электропроводность
Доп.точки доступа:
Бурре, А.
Меллер, Х.
Зингер, Х.
Харбеке, Гюнтер \ред.\
Андрюшин, Е. А. \пер.\
Исаакян, В. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
15.
Подробнее
Симоненко, З. Г.
Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )
ББК 32.86-5
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовые приборы
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.
Симоненко, З. Г.
Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовые приборы
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.
16.
Подробнее
Оптическое поглощение и структура энергетических зон интерметаллических соединений GdNi[5-x]Cu[x] / Ю. В. Князев [и др. ] // Физика металлов и металловедение. - Т. 107, N 2 (2009), С. 185-191. - Библиогр.: с. 191 (20 назв. )
ББК 34.2
Рубрики: Технология металлов
Металловедение в целом
Кл.слова (ненормированные):
оптическое поглощение -- энергетические зоны -- интерметаллические соединения -- GdNi[5-x]Cu[x] -- спектральные интервалы -- эллипсометрия
Аннотация: В спектральном интервале 0. 22-15 мкм методом эллипсометрии исследованы оптические свойства интерметаллических соединений GdNi[5-x]Cu[x].
Доп.точки доступа:
Князев, Ю. В.
Кузьмин, Ю. И.
Кучин, А. Г.
Лукоянов, А. В.
Некрасов, И. А.
Оптическое поглощение и структура энергетических зон интерметаллических соединений GdNi[5-x]Cu[x] / Ю. В. Князев [и др. ] // Физика металлов и металловедение. - Т. 107, N 2 (2009), С. 185-191. - Библиогр.: с. 191 (20 назв. )
| УДК |
Рубрики: Технология металлов
Металловедение в целом
Кл.слова (ненормированные):
оптическое поглощение -- энергетические зоны -- интерметаллические соединения -- GdNi[5-x]Cu[x] -- спектральные интервалы -- эллипсометрия
Аннотация: В спектральном интервале 0. 22-15 мкм методом эллипсометрии исследованы оптические свойства интерметаллических соединений GdNi[5-x]Cu[x].
Доп.точки доступа:
Князев, Ю. В.
Кузьмин, Ю. И.
Кучин, А. Г.
Лукоянов, А. В.
Некрасов, И. А.
17.
Подробнее
Основы эллипсометрии / [А. В. Ржанов, К. К. Свиташев, А. И. Семененко и др.] ; отв. ред. А. В. Ржанов ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, 1979. - 422 с. : ил. - Библиогр. : с. 377-419.
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- световые пучки -- анизотропные слоистые среды -- слоистые среды -- эллипсометрия сред
Доп.точки доступа:
Свиташев, Константин Константинович
Семененко, Людмила Владимировна
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Основы эллипсометрии / [А. В. Ржанов, К. К. Свиташев, А. И. Семененко и др.] ; отв. ред. А. В. Ржанов ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, 1979. - 422 с. : ил. - Библиогр. : с. 377-419.
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- световые пучки -- анизотропные слоистые среды -- слоистые среды -- эллипсометрия сред
Доп.точки доступа:
Свиташев, Константин Константинович
Семененко, Людмила Владимировна
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
18.
Подробнее
Эллипсометрия - метод исследования поверхности / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1983. - 180 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- эллипсометрические измерения -- применение эллипсометрии -- оптические технологии -- эллипсометрическая аппаратура
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Эллипсометрия - метод исследования поверхности / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1983. - 180 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- эллипсометрические измерения -- применение эллипсометрии -- оптические технологии -- эллипсометрическая аппаратура
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
19.
Подробнее
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Page 2, Results: 19