Перейти к содержимому 
База данных: ЭБС Юрайт
Страница 1, Результатов: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Илюшин, Александр Сергеевич.
Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 327 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-04316-7
URL: https://urait.ru/bcode/539179 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Основы оптики
Аннотация: Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Доп.точки доступа:
Орешко, Алексей Павлович
Илюшин, Александр Сергеевич.
Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 327 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-04316-7
URL: https://urait.ru/bcode/539179 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Основы оптики
Аннотация: Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Доп.точки доступа:
Орешко, Алексей Павлович
2.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
3.
Подробнее
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06855-9
URL: https://urait.ru/bcode/538891 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Основы фотоники -- Когерентная оптика -- Колебания волны, оптика -- Оптические методы анализа -- Колебания и волны, оптика -- Оптика, колебания и волны -- Оптическая интерферометрия -- Фотоника -- Оптоэлектроника и нанофотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Теоретический материал дополнен вопросами и заданиями для самоконтроля, библиографическими списками, а также приложениями.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
Гужов, Владимир Иванович.
Оптические измерения. Компьютерная интерферометрия [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. И. Гужов, С. П. Ильиных. - 2-е изд. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 258 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06855-9
URL: https://urait.ru/bcode/538891 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Основы фотоники -- Когерентная оптика -- Колебания волны, оптика -- Оптические методы анализа -- Колебания и волны, оптика -- Оптика, колебания и волны -- Оптическая интерферометрия -- Фотоника -- Оптоэлектроника и нанофотоника
Аннотация: Учебное пособие посвящено теме компьютерной интерферометрии, главное отличие которой — применение компьютера не только для обработки, но и для управления процессом получения интерференционной картины. В издании рассмотрены вопросы регистрации и восстановления волновых оптических полей в пространстве, восстановления поля разности фаз, расшифровки спекл- и сдвиговых интерферограмм. Также описаны методы расширения динамического диапазона при интерференционных измерениях и автоматизированные интерференционные измерительные системы. Теоретический материал дополнен вопросами и заданиями для самоконтроля, библиографическими списками, а также приложениями.
Доп.точки доступа:
Ильиных, Сергей Петрович
4.
Подробнее
Илюшин, Александр Сергеевич.
Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 299 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-04324-2
URL: https://urait.ru/bcode/539478 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Основы оптики
Аннотация: Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Доп.точки доступа:
Орешко, Алексей Павлович
Илюшин, Александр Сергеевич.
Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 299 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-04324-2
URL: https://urait.ru/bcode/539478 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Основы оптики
Аннотация: Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Доп.точки доступа:
Орешко, Алексей Павлович
Страница 1, Результатов: 4