База данных: ЭБС Юрайт
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
535(075.8)
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для вузов / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-10804-0
URL: https://urait.ru/bcode/541824 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.34я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптика твердого тела -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы информационной оптики -- Основы оптики -- Волны и оптика -- Геометрическая оптика -- Современная оптика -- Физическая оптика -- Оптика и методика ее преподавания в профильной школе -- Основы геометрической оптики -- Специальные вопросы оптики -- Интегрированные технологии и оптика локализованных структур -- Системы адаптивной оптики и их приложения -- Физические и математические принципы адаптивной оптики -- Решение задач по оптике -- Оптика конденсированных сред -- Оптика диэлектрических материалов и структур -- Основы физической оптики -- Математический аппарат современной оптики -- Технологии обработки и контроля оптики -- Механика и оптика -- Оптика и атомная физика -- Введение в современную оптику -- Некоторые вопросы прикладной электродинамики в оптике -- Теоретическая оптика -- Оптика атмосферы -- Оптические устройства -- Оптика дисперсных систем -- Основы матричной оптики -- Статистическая и корреляционная оптика -- Компьютерные методы в современной оптике -- Статистическая оптика -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Дифракционная оптика -- Поляризационная оптика -- Техническая оптика -- Оптические свойства кристаллов -- Информационная оптика -- Компьютерное моделирование в оптике -- Оптика поверхности -- Оптика анизотропных сред -- Специальные разделы оптики -- Методы контроля в оптике -- История оптики -- Компьютерные технологии в оптике -- Математическое моделирование в оптике -- Оптика плазмы -- Оптическая техника -- Основы голографии и голограммной оптики -- Экспериментальная оптика -- Экспериментальные методы оптической физики -- Введение в матричную оптику -- Колебания и волны в оптике -- Фурье оптика и голография -- Физиологическая оптика -- Основы технической оптики
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания теории раздела «Оптика» с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для бакалавров направления подготовки «Педагогическое образование» (профиль «Физическое образование»).
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
Гороховатский, Юрий Андреевич.
Оптика [Электронный ресурс] : учебник и практикум для вузов / Ю. А. Гороховатский, И. И. Худякова ; под редакцией Ю. А. Гороховатского. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 220 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-10804-0
URL: https://urait.ru/bcode/541824 (дата обращения: 12.03.2024).
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Оптика -- Оптика твердого тела -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы информационной оптики -- Основы оптики -- Волны и оптика -- Геометрическая оптика -- Современная оптика -- Физическая оптика -- Оптика и методика ее преподавания в профильной школе -- Основы геометрической оптики -- Специальные вопросы оптики -- Интегрированные технологии и оптика локализованных структур -- Системы адаптивной оптики и их приложения -- Физические и математические принципы адаптивной оптики -- Решение задач по оптике -- Оптика конденсированных сред -- Оптика диэлектрических материалов и структур -- Основы физической оптики -- Математический аппарат современной оптики -- Технологии обработки и контроля оптики -- Механика и оптика -- Оптика и атомная физика -- Введение в современную оптику -- Некоторые вопросы прикладной электродинамики в оптике -- Теоретическая оптика -- Оптика атмосферы -- Оптические устройства -- Оптика дисперсных систем -- Основы матричной оптики -- Статистическая и корреляционная оптика -- Компьютерные методы в современной оптике -- Статистическая оптика -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Дифракционная оптика -- Поляризационная оптика -- Техническая оптика -- Оптические свойства кристаллов -- Информационная оптика -- Компьютерное моделирование в оптике -- Оптика поверхности -- Оптика анизотропных сред -- Специальные разделы оптики -- Методы контроля в оптике -- История оптики -- Компьютерные технологии в оптике -- Математическое моделирование в оптике -- Оптика плазмы -- Оптическая техника -- Основы голографии и голограммной оптики -- Экспериментальная оптика -- Экспериментальные методы оптической физики -- Введение в матричную оптику -- Колебания и волны в оптике -- Фурье оптика и голография -- Физиологическая оптика -- Основы технической оптики
Аннотация: В курсе представлено компактное изложение содержания теории раздела «Оптика» с учетом специфики подготовки учителя физики. Структура курса отражает диалектику развития представлений о природе света. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для бакалавров направления подготовки «Педагогическое образование» (профиль «Физическое образование»).
Доп.точки доступа:
Худякова, Инна Ивановна
2.
Подробнее
539.26(075.8)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Страница 1, Результатов: 2