Перейти к содержимому 
База данных: ЭБС Юрайт
Страница 1, Результатов: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей . - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 30.3я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей . - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
Страница 1, Результатов: 1