Перейти к содержимому 
База данных: ЭБС Юрайт
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 30.3я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
2.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 22.343.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Дифракционный структурный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2023. - 309 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-15004-9
URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 12.03.2024).
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Дифракционный структурный анализ -- Оптика -- Оптическая физика -- Оптические измерения -- Основы оптики -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий -- Физико-химические основы технологии редких и рассеянных элементов и материалов на их основе -- Основы рентгеновской дифрактометрии -- Методы исследования материалов и композитов -- Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей -- Распространение и дифракция электромагнитных волн -- Физическая оптика -- Основы рентгеноструктурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ наноматериалов -- Дифракционные и микроскопические методы -- Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур -- Дифракционные и магнитные методы исследования вещества -- Дифракционные и спектроскопические методы исследования твердых тел -- Физика дифракции -- Структурный анализ и моделирование систем -- Рентгеновские методы -- Основы физической оптики -- Рентгеновские методы исследования материалов -- Дифракционные методы анализа наноразмерных объектов -- Колебательные спектры кристаллов -- Основы структурного анализа -- Резонансные методы исследования вещества -- Современные методы магнитного резонанса -- Структурный анализ -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей -- Методы структурного анализа материалов и контроля качества -- Применение методов молекулярной спектроскопии -- Применение рентгеновских методов исследования -- Методы рентгеновской визуализации -- Цифровые приемники рентгеновского изображения -- Физико-химия композитов -- Классические задачи теории дифракции -- Рентгеновская оптика -- Дифракционные методы исследования структуры -- Рентгенография и рентгеноструктурный анализ -- Специальные методы структурного анализа -- Рентгеноструктурный анализ материалов -- Рентгеновские методы исследования оптических наноматериалов -- Математическое моделирование в теории дифракции -- Дифракционная и интерференционная оптика -- Физика кристаллических материалов -- Дифракционные методы исследования вещества -- Современные методы структурного анализа -- Физика рентгеновских лучей -- Электродинамический анализ структур оптического и рентгеновского диапазонов -- Дифракционные методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ -- Теория дифракции электромагнитных волн -- Асимптотические методы теории распространения и дифракции коротких волн -- Динамическая теория рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах -- Магнитные резонансы в твердых телах -- Рентгеновские методы анализа -- Основы дифракционного структурного анализа -- Квантово-механические методы моделирования наноматериалов -- Методы структурного анализа материалов -- Техника рентгеноструктурного анализа -- Системно-структурный анализ и нормативная база проектирования производственных, жилых и общественных зданий -- Дифракционные методы -- Магнитная симметрия -- Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции -- Рентгеновская дифракция -- Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов -- Рентгеноструктурный анализ и теория групп симметрии -- Технологии структурного анализа -- Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов -- Методы структурного анализа -- Дифракционные, спектроскопические и зондовые методы исследования материалов -- Рентгеновское оборудование -- Дифракционные методы анализа веществ и материалов -- Методы структурного анализа и контроль качества изделий
Аннотация: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Страница 1, Результатов: 2