База данных: ЭБС Юрайт
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
67.017(075.8)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 30.3я73
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / Э. В. Суворов. - 2-е изд., пер. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 180 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-06011-9
URL: https://urait.ru/bcode/539265 (дата обращения: 12.03.2024).
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Физика. Астрономия -- Естественные науки -- Физика реального кристалла -- Рентгенография и электронная микроскопия -- Теория строения материалов -- Кристаллография, рентгенография и микроскопия -- Основы теории строения материалов -- Основы физики жидких кристаллов -- Методы структурного анализа металлов и сплавов -- Физико-химический анализ в неорганическом материаловедении -- Реальная структура материалов -- Физико-химические основы материаловедения и технологии получения материалов -- Кристаллография и физика твердого тела -- Физико-химические основы материаловедения -- Рентгенография -- Физико-химический анализ - основа современного материаловедения -- Методы исследования физико-механических свойств материалов -- Рентгенография наноматериалов -- Рентгенография и микроскопия -- Рентгенография кристаллов -- Физика реальных кристаллов -- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия -- Методы анализа состава материалов -- Методы структурного анализа материалов -- Рентгенография и микроскопия: проектное обучение -- Современные методы структурного анализа в материаловедении -- Структурный анализ сплавов -- Введение в физику жидких кристаллов -- Основы физики прочности и материаловедение -- Физика и методы исследования наноструктур
Аннотация: С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Курс посвящен дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость курсаобусловлена прежде всего тем, что учебные курса по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор курса — известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах — делает попытку восполнить этот пробел.
2.
Подробнее
66.017(075.8)
Конюхов, Валерий Юрьевич.
Методы исследования материалов и процессов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. Ю. Конюхов, И. А. Гоголадзе, З. В. Мурга. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 179 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-13938-9
URL: https://urait.ru/bcode/539736 (дата обращения: 12.03.2024).
ББК 24.4я73
Кл.слова (ненормированные):
Химия. Химические технологии -- Естественные науки -- Теория строения материалов -- Методы исследования материалов и процессов -- Физические методы исследования -- Материаловедение наноматериалов и наносистем -- Материаловедение наноструктурированных материалов -- Химия и материаловедение -- Методы исследования, контроля и испытания материалов -- Методы определения состава и строения вещества -- Основы теории строения материалов -- Физические методы исследования материалов -- Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем -- Физико-химия наноматериалов -- Физические методы исследования материалов и покрытий -- Материаловедение наносистем -- Испытание материалов и изделий -- Коррозия и защита нанокристаллических материалов -- Материаловедение. ТКМ -- Методы контроля и испытаний авиационных материалов и конструкций -- Разработка опытных образцов функциональных наноматериалов в качестве наполнителей для трибологического использования -- Современные методы анализа и исследования структуры и свойств материалов -- Современные методы анализа и исследования структуры и свойств наноматериалов -- Физико-технологические основы методов обработки -- Функциональные материалы триботехнического назначения -- Методы исследования в химии -- Физико-химическое материаловедение наноструктурных материалов -- Физические методы исследования вещества -- Испытание материалов и изделий отрасли -- Испытание материалов и процессов -- Материаловедение и химия
Аннотация: В учебном пособии дана классификация методов физико-химического анализа и исследования материалов, рассмотрены современные тенденции развития этих методов, а также физические процессы, лежащие в их основе. Особое внимание уделено значению методов физико-химического анализа для полиграфической технологии. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, а также преподавателей химии, научных и инженерно-технических работников.
Доп.точки доступа:
Гоголадзе, Ирма Алексеевна
Мурга, Зурида Владимировна
Конюхов, Валерий Юрьевич.
Методы исследования материалов и процессов [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / В. Ю. Конюхов, И. А. Гоголадзе, З. В. Мурга. - 2-е изд., испр. и доп. - Электрон. дан.col. - Москва : Юрайт, 2024. - 179 с. - (Высшее образование). - Режим доступа: Электронно-библиотечная система Юрайт, для авториз. пользователей. - ISBN 978-5-534-13938-9
URL: https://urait.ru/bcode/539736 (дата обращения: 12.03.2024).
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Химия. Химические технологии -- Естественные науки -- Теория строения материалов -- Методы исследования материалов и процессов -- Физические методы исследования -- Материаловедение наноматериалов и наносистем -- Материаловедение наноструктурированных материалов -- Химия и материаловедение -- Методы исследования, контроля и испытания материалов -- Методы определения состава и строения вещества -- Основы теории строения материалов -- Физические методы исследования материалов -- Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем -- Физико-химия наноматериалов -- Физические методы исследования материалов и покрытий -- Материаловедение наносистем -- Испытание материалов и изделий -- Коррозия и защита нанокристаллических материалов -- Материаловедение. ТКМ -- Методы контроля и испытаний авиационных материалов и конструкций -- Разработка опытных образцов функциональных наноматериалов в качестве наполнителей для трибологического использования -- Современные методы анализа и исследования структуры и свойств материалов -- Современные методы анализа и исследования структуры и свойств наноматериалов -- Физико-технологические основы методов обработки -- Функциональные материалы триботехнического назначения -- Методы исследования в химии -- Физико-химическое материаловедение наноструктурных материалов -- Физические методы исследования вещества -- Испытание материалов и изделий отрасли -- Испытание материалов и процессов -- Материаловедение и химия
Аннотация: В учебном пособии дана классификация методов физико-химического анализа и исследования материалов, рассмотрены современные тенденции развития этих методов, а также физические процессы, лежащие в их основе. Особое внимание уделено значению методов физико-химического анализа для полиграфической технологии. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, а также преподавателей химии, научных и инженерно-технических работников.
Доп.точки доступа:
Гоголадзе, Ирма Алексеевна
Мурга, Зурида Владимировна
Страница 1, Результатов: 2