Перейти к содержимому
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Кочаков, Валерий Данилович.
Основы атомно-силовой наноскопии : учебное пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин ; [отв. ред. В. С. Абруков] ; Чувашский государственный университет ; Чувашский государственный университет (Чебоксары). - Чебоксары : [Изд-во Чувашского университета], 2010. - 55 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 54. - ISBN 9785767714827
Рубрики: наноскопия атомно-силовая--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия атомно-силовая -- нанотехнологии -- микроскопы атомно-силовые -- датчики зондовые -- кантилеверы -- артефакты (микроскопия) -- FemtoScan (компьютерные программы) -- сканирование (микроскопия) -- микроскопы сканирующие
Доп.точки доступа:
Еремкин, Алексей Владимирович
Абруков, В. С. \ред.\
Чувашский государственный университет (Чебоксары)
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Книгохранение (1), Ч/З о. Русский (1)
Кочаков, Валерий Данилович.
Основы атомно-силовой наноскопии : учебное пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин ; [отв. ред. В. С. Абруков] ; Чувашский государственный университет ; Чувашский государственный университет (Чебоксары). - Чебоксары : [Изд-во Чувашского университета], 2010. - 55 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 54. - ISBN 9785767714827
| УДК |
Рубрики: наноскопия атомно-силовая--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия атомно-силовая -- нанотехнологии -- микроскопы атомно-силовые -- датчики зондовые -- кантилеверы -- артефакты (микроскопия) -- FemtoScan (компьютерные программы) -- сканирование (микроскопия) -- микроскопы сканирующие
Доп.точки доступа:
Еремкин, Алексей Владимирович
Абруков, В. С. \ред.\
Чувашский государственный университет (Чебоксары)
Экземпляры всего: 2
Книгохранение (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Книгохранение (1), Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 285-292. - Парал. тит. л. на нем. яз.
Рубрики: электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
взаимодействие между излучением и веществом -- электронное излучение -- электронные микроскопы -- дифракция -- артефакты (микроскопия) -- электронограммы -- световая микроскопия
Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\
Спасский, М. Н. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Книгохранение (1)
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского. - Москва : Мир, 1972. - 300 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 285-292. - Парал. тит. л. на нем. яз.
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
взаимодействие между излучением и веществом -- электронное излучение -- электронные микроскопы -- дифракция -- артефакты (микроскопия) -- электронограммы -- световая микроскопия
Доп.точки доступа:
Розенфельд, А. М. \пер.\
Спасский, М. Н. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 2