Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 7

Отмеченные записи: 0



    Синтез YVO[4] [Текст] / В. Н. Матросов [и др. ] // Материаловедение. - N 6 (2004), С. 13-15

Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- выращивание кристаллов -- шихты -- стехиометрические составы -- диодная накачка -- керамические методы синтеза -- кристаллы -- оптика
Аннотация: Исследованы различные методы получения шихты YVO[4] с помощью твердофазного синтеза при низких температурах. Это позволило вырастить кристаллы, по составу близкие к стехиометрическим высокого оптического качества.
Доп.точки доступа:
Пестряков, Е. В.
Матросов, В. Н.
Матросова, Т. А.
Купченко, М. И.

Синтез YVO[4] [Текст] / В. Н. Матросов [и др. ] // Материаловедение. - N 6 (2004), С. 13-15

1.

Синтез YVO[4] [Текст] / В. Н. Матросов [и др. ] // Материаловедение. - N 6 (2004), С. 13-15




    Синтез YVO[4] [Текст] / В. Н. Матросов [и др. ] // Материаловедение. - N 6 (2004), С. 13-15

Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- выращивание кристаллов -- шихты -- стехиометрические составы -- диодная накачка -- керамические методы синтеза -- кристаллы -- оптика
Аннотация: Исследованы различные методы получения шихты YVO[4] с помощью твердофазного синтеза при низких температурах. Это позволило вырастить кристаллы, по составу близкие к стехиометрическим высокого оптического качества.
Доп.точки доступа:
Пестряков, Е. В.
Матросов, В. Н.
Матросова, Т. А.
Купченко, М. И.


Кийко, В. В.
    Исследование термооптических искажений активного элемента (N d: YVO[4]) при различных способах его крепления / В. В. Кийко, Е. Н. Офицеров // Квантовая электроника. - Т. 36, N 5 (2006), С. 483-486. - Библиогр.: с. 486 (12 назв. ). - Ил.: 5 рис.

УДК
ББК 22.34

Рубрики: Радиоэлектроника--Квантовая электроника

   Физика--Оптика


Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- твердотельные лазеры -- диодная накачка -- тепловые линзы -- термооптические искажения -- метод Гартмана -- Гартмана метод
Аннотация: Исследованы термооптические искажения активного элемента твердотельного лазера с аксиальной диодной накачкой при различных способах его крепления. Исследования проводились с помощью метода Гартмана.
Доп.точки доступа:
Офицеров, Е. Н.

Кийко, В. В. Исследование термооптических искажений активного элемента (N d: YVO[4]) при различных способах его крепления [Текст] / В. В. Кийко, Е. Н. Офицеров // Квантовая электроника. - Т. 36, N 5 (2006), С. 483-486

2.

Кийко, В. В. Исследование термооптических искажений активного элемента (N d: YVO[4]) при различных способах его крепления [Текст] / В. В. Кийко, Е. Н. Офицеров // Квантовая электроника. - Т. 36, N 5 (2006), С. 483-486



Кийко, В. В.
    Исследование термооптических искажений активного элемента (N d: YVO[4]) при различных способах его крепления / В. В. Кийко, Е. Н. Офицеров // Квантовая электроника. - Т. 36, N 5 (2006), С. 483-486. - Библиогр.: с. 486 (12 назв. ). - Ил.: 5 рис.

УДК
ББК 22.34

Рубрики: Радиоэлектроника--Квантовая электроника

   Физика--Оптика


Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- твердотельные лазеры -- диодная накачка -- тепловые линзы -- термооптические искажения -- метод Гартмана -- Гартмана метод
Аннотация: Исследованы термооптические искажения активного элемента твердотельного лазера с аксиальной диодной накачкой при различных способах его крепления. Исследования проводились с помощью метода Гартмана.
Доп.точки доступа:
Офицеров, Е. Н.


Малютин, А. А.
    Моды плоскосферического резонатора лазера с гауссовым распределением усиления активной среды / А. А. Малютин // Квантовая электроника. - Т. 37, N 3 (2007), С. 299-306. - Библиогр.: с. 306 (23 назв. ). - Ил.: 8 рис.

УДК
ББК 32.86 + 22.34

Рубрики: Радиоэлектроника--Квантовая электроника

   Физика--Оптика


Кл.слова (ненормированные):
моды -- моды резонатора -- плоскосферические резонаторы лазеров -- диодная накачка -- гауссово распределение усиления -- лазеры с диодной накачкой -- резонаторы лазеров
Аннотация: Приведены результаты численного расчета типов колебаний лазера с плоскосферическими вырожденными и невырожденными резонаторами при диодной накачке, создающей в активной среде гауссово распределение усиления. Рассмотрены аксиально-симметричная и внеосевая накачки.

Малютин, А. А. Моды плоскосферического резонатора лазера с гауссовым распределением усиления активной среды [Текст] / А. А. Малютин // Квантовая электроника. - Т. 37, N 3 (2007), С. 299-306

3.

Малютин, А. А. Моды плоскосферического резонатора лазера с гауссовым распределением усиления активной среды [Текст] / А. А. Малютин // Квантовая электроника. - Т. 37, N 3 (2007), С. 299-306



Малютин, А. А.
    Моды плоскосферического резонатора лазера с гауссовым распределением усиления активной среды / А. А. Малютин // Квантовая электроника. - Т. 37, N 3 (2007), С. 299-306. - Библиогр.: с. 306 (23 назв. ). - Ил.: 8 рис.

УДК
ББК 32.86 + 22.34

Рубрики: Радиоэлектроника--Квантовая электроника

   Физика--Оптика


Кл.слова (ненормированные):
моды -- моды резонатора -- плоскосферические резонаторы лазеров -- диодная накачка -- гауссово распределение усиления -- лазеры с диодной накачкой -- резонаторы лазеров
Аннотация: Приведены результаты численного расчета типов колебаний лазера с плоскосферическими вырожденными и невырожденными резонаторами при диодной накачке, создающей в активной среде гауссово распределение усиления. Рассмотрены аксиально-симметричная и внеосевая накачки.


Ушаков, С. Н.
    Двухмикронная лазерная генерация в режиме модулированной добротности на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; / С. Н. Ушаков, М. Н. Хромов, А. В. Шестаков // Квантовая электроника. - Т. 39, N 5 (2009), С. 415-416. - Библиогр.: с. 416 (3 назв. )

УДК
ББК 22.343 + 32.86

Рубрики: Физика

   Физическая оптика


   Радиоэлектроника


   Квантовая электроника


Кл.слова (ненормированные):
YAlO[3] : Tm&3+; кристаллы -- генерация на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; -- двухмикронная генерация -- диодная накачка -- лазерная генерация -- модуляция добротности
Аннотация: Представлены параметры лазера на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; с продольной диодной накачкой, работающего в режиме модулированной добротности. Частота повторения импульсов f = 1-15 кГц. Максимальная средняя мощность генерации составляет 5 Вт (при f = 5-15 кГц), минимальная длительность импульса 130 нс (f = 1 кГц), эффективность 26% (дифференциальная эффективность 58 %). Для спектральной области накачки 803-805 нм длина волны генерации была равна 1. 99 мкм.
Доп.точки доступа:
Хромов, М. Н.
Шестаков, А. В.

Ушаков, С. Н. Двухмикронная лазерная генерация в режиме модулированной добротности на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; [Текст] / С. Н. Ушаков, М. Н. Хромов, А. В. Шестаков // Квантовая электроника. - Т. 39, N 5 (2009), С. 415-416

4.

Ушаков, С. Н. Двухмикронная лазерная генерация в режиме модулированной добротности на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; [Текст] / С. Н. Ушаков, М. Н. Хромов, А. В. Шестаков // Квантовая электроника. - Т. 39, N 5 (2009), С. 415-416



Ушаков, С. Н.
    Двухмикронная лазерная генерация в режиме модулированной добротности на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; / С. Н. Ушаков, М. Н. Хромов, А. В. Шестаков // Квантовая электроника. - Т. 39, N 5 (2009), С. 415-416. - Библиогр.: с. 416 (3 назв. )

УДК
ББК 22.343 + 32.86

Рубрики: Физика

   Физическая оптика


   Радиоэлектроника


   Квантовая электроника


Кл.слова (ненормированные):
YAlO[3] : Tm&3+; кристаллы -- генерация на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; -- двухмикронная генерация -- диодная накачка -- лазерная генерация -- модуляция добротности
Аннотация: Представлены параметры лазера на кристалле YAlO[3] : Tm&3+; с продольной диодной накачкой, работающего в режиме модулированной добротности. Частота повторения импульсов f = 1-15 кГц. Максимальная средняя мощность генерации составляет 5 Вт (при f = 5-15 кГц), минимальная длительность импульса 130 нс (f = 1 кГц), эффективность 26% (дифференциальная эффективность 58 %). Для спектральной области накачки 803-805 нм длина волны генерации была равна 1. 99 мкм.
Доп.точки доступа:
Хромов, М. Н.
Шестаков, А. В.


Шаталов, А. Ф.
    Измерение постоянной времени диодной накачки твердотельного лазера с пассивным модулятором в резонаторе / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Метрология. - N 7 (2009), С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (6 назв. )

УДК
ББК 30.10 + 32.86-5

Рубрики: Техника

   Метрология


   Радиоэлектроника


   Квантовые приборы


Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- твердотельные лазеры -- накачка -- диодная накачка -- импульсы накачки -- постоянная времени -- пассивные модуляторы -- радиационное время жизни -- задержка импульса
Аннотация: Методика измерения и схема измерительного устройства для определения постоянной времени диодной накачки лазера по времени задержки импульсной генерации относительно переднего фронта импульса накачки.
Доп.точки доступа:
Шаталов, Ф. А.

Шаталов, А. Ф. Измерение постоянной времени диодной накачки твердотельного лазера с пассивным модулятором в резонаторе [Текст] / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Метрология. - N 7 (2009), С. 33-37

5.

Шаталов, А. Ф. Измерение постоянной времени диодной накачки твердотельного лазера с пассивным модулятором в резонаторе [Текст] / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Метрология. - N 7 (2009), С. 33-37



Шаталов, А. Ф.
    Измерение постоянной времени диодной накачки твердотельного лазера с пассивным модулятором в резонаторе / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Метрология. - N 7 (2009), С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (6 назв. )

УДК
ББК 30.10 + 32.86-5

Рубрики: Техника

   Метрология


   Радиоэлектроника


   Квантовые приборы


Кл.слова (ненормированные):
лазеры -- твердотельные лазеры -- накачка -- диодная накачка -- импульсы накачки -- постоянная времени -- пассивные модуляторы -- радиационное время жизни -- задержка импульса
Аннотация: Методика измерения и схема измерительного устройства для определения постоянной времени диодной накачки лазера по времени задержки импульсной генерации относительно переднего фронта импульса накачки.
Доп.точки доступа:
Шаталов, Ф. А.


Сергеев, Д. А.
    Измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц на основе твердотельного лазера с диодной накачкой / Д. А. Сергеев // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 138-144. - Библиогр.: с. 144 (12 назв. )

УДК
ББК 34.9

Рубрики: Приборостроение

   Приборостроение в целом


Кл.слова (ненормированные):
измерительные комплексы -- метод пробных частиц -- твердотельные лазеры -- течение жидкости -- диодная накачка
Аннотация: Разработан измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц.

Сергеев, Д. А. Измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц на основе твердотельного лазера с диодной накачкой [Текст] / Д. А. Сергеев // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 138-144

6.

Сергеев, Д. А. Измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц на основе твердотельного лазера с диодной накачкой [Текст] / Д. А. Сергеев // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 138-144



Сергеев, Д. А.
    Измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц на основе твердотельного лазера с диодной накачкой / Д. А. Сергеев // Приборы и техника эксперимента. - N 3 (2009), С. 138-144. - Библиогр.: с. 144 (12 назв. )

УДК
ББК 34.9

Рубрики: Приборостроение

   Приборостроение в целом


Кл.слова (ненормированные):
измерительные комплексы -- метод пробных частиц -- твердотельные лазеры -- течение жидкости -- диодная накачка
Аннотация: Разработан измерительный комплекс для исследования течений жидкости методом пробных частиц.


Шаталов, А. Ф.
    Измерение порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Приборы и техника эксперимента. - N 6 (2009), С. 99-101. - Библиогр.: с. 101 (4 назв. )

УДК
ББК 32

Рубрики: Радиоэлектроника

   Радиоэлектроника в целом


Кл.слова (ненормированные):
генерация -- лазеры -- импульсные лазеры -- твердотельные лазеры -- генерация лазеров -- диодная накачка -- кристаллы -- частотно-ваттные характеристики -- резонаторы
Аннотация: Предложен способ измерения порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе по частотно-ваттной характеристике, отражающей зависимость частоты импульсов генерации лазера от поглощенной мощности накачки. Приведены результаты измерения порога генерации лазеров на кристаллах Y3Al5O12 : Nd3+ и Ca3Ga2Ge3O12 : Nd3+.
Доп.точки доступа:
Шаталов, Ф. А.

Шаталов, А. Ф. Измерение порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе [Текст] / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Приборы и техника эксперимента. - N 6 (2009), С. 99-101

7.

Шаталов, А. Ф. Измерение порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе [Текст] / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Приборы и техника эксперимента. - N 6 (2009), С. 99-101



Шаталов, А. Ф.
    Измерение порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе / А. Ф. Шаталов, Ф. А. Шаталов // Приборы и техника эксперимента. - N 6 (2009), С. 99-101. - Библиогр.: с. 101 (4 назв. )

УДК
ББК 32

Рубрики: Радиоэлектроника

   Радиоэлектроника в целом


Кл.слова (ненормированные):
генерация -- лазеры -- импульсные лазеры -- твердотельные лазеры -- генерация лазеров -- диодная накачка -- кристаллы -- частотно-ваттные характеристики -- резонаторы
Аннотация: Предложен способ измерения порога генерации импульсного твердотельного лазера с диодной накачкой и пассивным затвором в резонаторе по частотно-ваттной характеристике, отражающей зависимость частоты импульсов генерации лазера от поглощенной мощности накачки. Приведены результаты измерения порога генерации лазеров на кристаллах Y3Al5O12 : Nd3+ и Ca3Ga2Ge3O12 : Nd3+.
Доп.точки доступа:
Шаталов, Ф. А.

Страница 1, Результатов: 7

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц