Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 8
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Лисойван, Владимир Иванович.
Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / В. И. Лисойван, С. А. Громилов ; отв. ред. Д. М. Хейкер ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт неорганической химии. - Новосибирск : Наука, 1989. - 243 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 224-240.. - ISBN 5020286877
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- аберраций математическая теория -- рентгенофазовый анализ -- гониометры -- поликристаллы
Доп.точки доступа:
Громилов, Сергей Александрович
Хейкер, Д. М. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт неорганической химии
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Лисойван, Владимир Иванович.
Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / В. И. Лисойван, С. А. Громилов ; отв. ред. Д. М. Хейкер ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт неорганической химии. - Новосибирск : Наука, 1989. - 243 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 224-240.. - ISBN 5020286877
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- аберраций математическая теория -- рентгенофазовый анализ -- гониометры -- поликристаллы
Доп.точки доступа:
Громилов, Сергей Александрович
Хейкер, Д. М. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт неорганической химии
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Прецизионный рентгендифракционный эксперимент / [Л. А. Асланов, Г. В. Фетисов, А. В. Лактионов и др.] ; под ред. Л. А. Асланова. - [Москва] : Изд-во Московского университета, 1989. - 220 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5211012135
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- рентгеновские лучи -- рентгеностуктурный анализ -- математическое моделирование (дифрактометрия) -- дифрактометрия
Доп.точки доступа:
Фетисов, Геннадий Владимирович
Лактионов, Алексей Васильевич
Асланов, Леонид Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Прецизионный рентгендифракционный эксперимент / [Л. А. Асланов, Г. В. Фетисов, А. В. Лактионов и др.] ; под ред. Л. А. Асланова. - [Москва] : Изд-во Московского университета, 1989. - 220 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5211012135
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- рентгеновские лучи -- рентгеностуктурный анализ -- математическое моделирование (дифрактометрия) -- дифрактометрия
Доп.точки доступа:
Фетисов, Геннадий Владимирович
Лактионов, Алексей Васильевич
Асланов, Леонид Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Компактный рентгеновский дифрактометр Дифрей-401 // Датчики и системы. - N 6 (2005), С. 44. - Ил.
ББК 22.3с
Рубрики: Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- рентгеновские дифрактометры -- рентгеноструктурный анализ -- Дифрей-401 (дифрактометр)
Аннотация: Даны технические характеристики прибора Дифрей-401 и его применение.
Компактный рентгеновский дифрактометр Дифрей-401 // Датчики и системы. - N 6 (2005), С. 44. - Ил.
| УДК |
Рубрики: Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- рентгеновские дифрактометры -- рентгеноструктурный анализ -- Дифрей-401 (дифрактометр)
Аннотация: Даны технические характеристики прибора Дифрей-401 и его применение.
4.
Подробнее
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
5.
Подробнее
Фефилов, Г. Д.; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Применение метода весовой обработки для уменьшения влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри / Г. Д. Фефилов // Известия вузов. Приборостроение. - Т. 49, N 9 (2006), С. 63-67. - Библиогр.: с. 67 (9 назв. ). - Тематический выпуск: Лазерные микротехнологии в материаловедении и приборостроении/ Под. ред. д-ра техн. наук В. П. Вейко и д-ра техн. наук Е. Б. Яковлева
ББК 30.10
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
имитационное моделирование -- дифрактометрия -- картина Эйри -- Эйри картина -- фильтрация -- метод весовой обработки -- аддитивные помехи -- погрешности -- лазерные дифрактометры -- оптоэлектронные приборы
Аннотация: Приведены результаты имитационного моделирования влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри. Показано, что обычно значение погрешности существенно более 1%. Применение метода весовой обработки, с использованием оптимальной весовой функции, а также традиционных методов фильтрации позволяет снизить погрешность.
Фефилов, Г. Д.; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Применение метода весовой обработки для уменьшения влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри / Г. Д. Фефилов // Известия вузов. Приборостроение. - Т. 49, N 9 (2006), С. 63-67. - Библиогр.: с. 67 (9 назв. ). - Тематический выпуск: Лазерные микротехнологии в материаловедении и приборостроении/ Под. ред. д-ра техн. наук В. П. Вейко и д-ра техн. наук Е. Б. Яковлева
| УДК |
Рубрики: Техника--Метрология
Кл.слова (ненормированные):
имитационное моделирование -- дифрактометрия -- картина Эйри -- Эйри картина -- фильтрация -- метод весовой обработки -- аддитивные помехи -- погрешности -- лазерные дифрактометры -- оптоэлектронные приборы
Аннотация: Приведены результаты имитационного моделирования влияния аддитивной помехи на погрешность измерения ширины колец дифракционной картины Эйри. Показано, что обычно значение погрешности существенно более 1%. Применение метода весовой обработки, с использованием оптимальной весовой функции, а также традиционных методов фильтрации позволяет снизить погрешность.
6.
Подробнее
Корчевский, В. В.
Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры / В. В. Корчевский // Измерительная техника. - N 3 (2006), С. 61-64
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- численные методы -- инструментальные погрешности -- эталонные образцы -- оценка погрешностей -- кристаллические структуры
Аннотация: Рассмотрено использование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра.
Корчевский, В. В.
Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры / В. В. Корчевский // Измерительная техника. - N 3 (2006), С. 61-64
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- численные методы -- инструментальные погрешности -- эталонные образцы -- оценка погрешностей -- кристаллические структуры
Аннотация: Рассмотрено использование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра.
7.
Подробнее
Д 501
621 Д 501 / Д 501-
621 Д 501 / Д 501-
621 Д 501 / Д 501-Хранение Отдела организации и использования фонда
621.384 Д 501 / Д 501-Хранение Отдела организации и использования фонда
Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / [В. В. Болдырев, Н. З. Ляхов, Б. П. Толочко и др.] ; отв. ред. Г. Н. Кулипанов ; Академия наук СССР, Институт биофизики, Сибирское отделение, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья, Институт ядерной физики ; Академия наук СССР, Институт биофизики [и др.]. - Новосибирск : Наука, 1989. - 144 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5020286907
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- синхотронное излучение -- рентгеновское излучение -- дифрактометры -- применение дифрактометрии
Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович
Ляхов, Николай Захарович
Толочко, Борис Петрович
Кулипанов, Г. Н. \ред.\
Академия наук СССР. Институт биофизики
Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья (Новосибирск)
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт ядерной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (2)
Д 501
621 Д 501 / Д 501-
621 Д 501 / Д 501-
621 Д 501 / Д 501-Хранение Отдела организации и использования фонда
621.384 Д 501 / Д 501-Хранение Отдела организации и использования фонда
Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения / [В. В. Болдырев, Н. З. Ляхов, Б. П. Толочко и др.] ; отв. ред. Г. Н. Кулипанов ; Академия наук СССР, Институт биофизики, Сибирское отделение, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья, Институт ядерной физики ; Академия наук СССР, Институт биофизики [и др.]. - Новосибирск : Наука, 1989. - 144 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5020286907
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- синхотронное излучение -- рентгеновское излучение -- дифрактометры -- применение дифрактометрии
Доп.точки доступа:
Болдырев, Владимир Вячеславович
Ляхов, Николай Захарович
Толочко, Борис Петрович
Кулипанов, Г. Н. \ред.\
Академия наук СССР. Институт биофизики
Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья (Новосибирск)
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт ядерной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (2)
8.
Подробнее
М 607
Мильбурн, Г.
Рентгеновская кристаллография = X-ray crystallography / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе. - Москва : Мир, 1975. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с. 246-252
Парал. тит. л. на англ. яз.
Рубрики: кристаллы--рентгеноструктурный анализ--монографии
Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллов -- кристаллические структуры -- структура кристаллов -- оптические исследования кристаллов -- рентгенограммы по Вайсенбергу -- вайсенбергограммы -- юстировка кристаллов -- анализ структуры кристаллов -- интенсивности дифракционных отражений -- измерение интенсивностей по Вайсенбергу -- дифрактометры -- кристаллографические программы
Доп.точки доступа:
Чиргадзе, Юрий Николаевич \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 607
Мильбурн, Г.
Рентгеновская кристаллография = X-ray crystallography / Г. Мильбурн ; перевод с английского Ю. Н. Чиргадзе. - Москва : Мир, 1975. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с. 246-252
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Рубрики: кристаллы--рентгеноструктурный анализ--монографии
Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллов -- кристаллические структуры -- структура кристаллов -- оптические исследования кристаллов -- рентгенограммы по Вайсенбергу -- вайсенбергограммы -- юстировка кристаллов -- анализ структуры кристаллов -- интенсивности дифракционных отражений -- измерение интенсивностей по Вайсенбергу -- дифрактометры -- кристаллографические программы
Доп.точки доступа:
Чиргадзе, Юрий Николаевич \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 8