Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 5
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справочное руководство / [С. Н. Григоров, В. М. Косевич, С. М. Космачев и др.] ; под ред. В. М. Косевича, Л. С. Палатника. - Москва : Наука, 1976. - 223 с. : ил., фотоил. - Библиогр. : с. 157-160
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
дислокационные сетки -- дислокационные петли -- электронномикроскопическое изображение дислокаций -- дефекты упаковки (физика) -- дифракционный контраст -- единичные дислокации (физика)
Доп.точки доступа:
Григоров, Сергей Николаевич
Космачев, Сергей Михайлович
Косевич, Вадим Маркович \ред.\
Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки : справочное руководство / [С. Н. Григоров, В. М. Косевич, С. М. Космачев и др.] ; под ред. В. М. Косевича, Л. С. Палатника. - Москва : Наука, 1976. - 223 с. : ил., фотоил. - Библиогр. : с. 157-160
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дислокационные сетки -- дислокационные петли -- электронномикроскопическое изображение дислокаций -- дефекты упаковки (физика) -- дифракционный контраст -- единичные дислокации (физика)
Доп.точки доступа:
Григоров, Сергей Николаевич
Космачев, Сергей Михайлович
Косевич, Вадим Маркович \ред.\
Палатник, Лев Самойлович \ред.\
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
| УДК |
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.]. - Москва : Мир, 1965. - 351 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Кл.слова (ненормированные):
дефекты в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- дифракционный контраст -- рентгеновские лучи -- топограмма прямого пучка -- происхождение рентгеновских лучей
Доп.точки доступа:
Ефимов, О. Н. \пер.\
Звинчук, Р. А. \пер.\
Сорокин, Л. М. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.]. - Москва : Мир, 1965. - 351 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дефекты в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- дифракционный контраст -- рентгеновские лучи -- топограмма прямого пучка -- происхождение рентгеновских лучей
Доп.точки доступа:
Ефимов, О. Н. \пер.\
Звинчук, Р. А. \пер.\
Сорокин, Л. М. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
5.
Подробнее
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 5